[实用新型]一种便于清洁的半导体沉积设备结构有效
申请号: | 201220437873.5 | 申请日: | 2012-08-30 |
公开(公告)号: | CN202772119U | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
发明(设计)人: | 许亮 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 李仪萍 |
地址: | 100176 北京市大兴*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 便于 清洁 半导体 沉积 设备 结构 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种半导体制程设备,特别是涉及一种便于清洁的半导体沉积设备结构。
背景技术
随着半导体技术的快速发展,半导体器件的特征尺寸的不断缩小,其器件性能越来越高,对器件制造环境的要求也达到了前所未有的高度。半导体中的杂质对电阻率的影响非常大,半导体中掺入微量杂质时,杂质原子附近的周期势场受到干扰并形成附加的束缚状态,在禁带中产加的杂质能级。为了满足量产上的需求,半导体的电性必须是可预测并且稳定的,因此包括掺杂物的纯度以及半导体晶格结构的品质都必须严格要求。
半导体技术是指半导体加工的各种技术,包括晶圆的生长技术、薄膜沉积、光刻、蚀刻、掺杂技术和工艺整合等技术。沉积技术是半导体制程工艺中的一个非常重要的技术。其中,化学气相沉积(CVD)是半导体工业中应用最为广泛的用来沉积多种材料的技术,其可用于沉积大范围的绝缘材料,大多数金属材料和金属合金材料。从理论上来说,化学气相沉积法是将两种或两种以上的气态原材料导入到一个反应室内,然后他们相互之间发生化学反应,形成一种新的材料,沉积到晶片表面上。化学气相沉积包括常压化学气相沉积、等离子体辅助化学沉积、激光辅助化学沉积、金属有机化合物沉积等。
晶片表面的洁净度是影响化学气相沉积的一个重要因素。一般的化学气相沉积工艺是在沉积工艺室里进行的,在工艺进行前必须先对沉积工艺室进行清洁,以免沉积工艺室内残留的杂质或颗粒对晶片造成不良的影响。一般的结构的沉积设备在清理时会遇到种种问题而不能达到所需的要求,容易造成产品良率的下降,不利于节约成本。
因此,提供一种便于清洁的半导体沉积设备结构实属必要。
实用新型内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本实用新型的目的在于提供一种便于清洁的半导体沉积设备结构,用于解决现有技术中沉积设备结构在清理后仍然残留有杂质或颗粒而对晶片造成不良影响的问题。
为实现上述目的及其他相关目的,本实用新型提供一种便于清洁的半导体沉积设备结构,所述半导体沉积设备结构至少包括:
承载结构,所述承载结构包括一承载圆盘及垂直固定于该承载圆盘侧壁的六对用于承载晶圆的承载棒,且相邻的两对承载棒之间的夹角为60度;
环绕于所述承载圆盘四周的加热器,且所述加热器表面具有多个与各该承载棒对应的收容槽;
连接于所述承载圆盘底部中心区域,用于带动所述承载圆盘上下移动及带动该承载圆盘沿其中心轴转动的旋转支撑装置;
其中,所述承载棒被所述旋转支撑装置固定至超出所述加热器的上表面,且与与其对应的收容槽的夹角为20~40度的位置。
作为本实用新型的便于清洁的半导体沉积设备结构的一个优选方案,所述承载棒被所述旋转支撑装置固定至与与其对应的收容槽的夹角为30度的位置。
作为本实用新型的便于清洁的半导体沉积设备结构的一个优选方案,所述承载棒的截面形状为矩形。
进一步地,所述收容槽为矩形槽,且所述收容槽的宽度大于所述承载棒的宽度,所述收容槽的深度大于所述承载棒的高度。
在本实用新型的便于清洁的半导体沉积设备结构中,所述承载圆盘为陶瓷盘,所述承载棒为陶瓷棒。
在本实用新型的便于清洁的半导体沉积设备结构中,所述加热器的表面为铝盘。
如上所述,本实用新型的便于清洁的半导体沉积设备结构,具有以下有益效果:本实用新型包括承载结构,所述承载结构包括一承载圆盘及垂直固定于该承载圆盘侧壁的六对用于承载晶圆的承载棒,且相邻的两对承载棒之间的夹角为60度;环绕于所述承载圆盘四周的加热器,且所述加热器表面具有多个与各该承载棒对应的收容槽;连接于所述承载圆盘底部中心区域,用于带动所述承载圆盘上下移动及带动该承载圆盘沿其中心轴转动的旋转支撑装置;其中,所述承载棒被所述旋转支撑装置固定至超出所述加热器的上表面,且与与其对应的收容槽的夹角为20~40度的位置。本实用新型将承载棒固定于超出加热器表面并与对应的收容槽具有一定的夹角,把收容槽完全露出,可以有效地对其进行清理,避免了杂质在收容槽内的残留以及产生颗粒而对晶片造成不良影响,有利于后续的工艺流程,增加产品的良率。
附图说明
图1显示为本实用新型的便于清洁的半导体沉积设备结构在正常工作时的平面结构示意图。
图2显示为本实用新型的便于清洁的半导体沉积设备结构在正常工作时的截面结构示意图。
图3显示为本实用新型的便于清洁的半导体沉积设备结构在清洁时的平面结构示意图。
图4显示为本实用新型的便于清洁的半导体沉积设备结构在清洁时的截面结构示意图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(北京)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(北京)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201220437873.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于高K材料的LDMOS器件
- 下一篇:开关操作联锁机构的驱动装置
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造