[实用新型]一种用于半导体产品测试的缓冲驱动电路有效
| 申请号： | 201220439864.X | 申请日： | 2012-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN202815108U | 公开（公告）日： | 2013-03-20 |
| 发明（设计）人： | 罗径华 | 申请（专利权）人： | 杰群电子科技（东莞）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人： | 雷利平 |
| 地址： | 523750 广东省东莞市黄江镇裕元工*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 半导体 产品 测试 缓冲 驱动 电路 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于半导体产品测试的缓冲驱动电路，其特征在于：待检信号Ui输入端与电阻R1的一端连接，电阻R1的另一端与第一运算放大器OP1的反相输入端连接；所述第一运算放大器OP1的同相输入端通过电阻R2与地连接，所述第一运算放大器OP1输出端通过电阻R3与第一运算放大器OP1反相输入端连接，所述第一运算放大器OP1输出端与电阻R4一端连接；
所述电阻R4的另一端与第二运算放大器OP2反相输入端连接；所述第二运算放大器OP2的反相输入端通过电阻R5与地连接，所述第二运算放大器OP2的同相输入端与地连接，所述第二运算放大器OP2的输出端通过电阻R6与所述第二运算放大器OP2的反相输入端连接，所述第二运算放大器OP2与传输线路连接。
2.如权利要求1所述的一种用于半导体产品测试的缓冲驱动电路，其特征在于：所述第一运算放大器OP1及第二运算放大器OP2均为AD826。
3.如权利要求1所述的一种用于半导体产品测试的缓冲驱动电路，其特征在于：所述电阻R1的阻值为100KΩ,所述电阻R2的阻值为51KΩ，所述电阻R3的阻值为100KΩ，所述电阻R4的阻值为10KΩ，所述电阻R5的阻值为200Ω，所述电阻R6的阻值为10KΩ。
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