[实用新型]一种可扩展型边界扫描测试系统

说明书

技术领域

本实用新型属于电子设备的边界扫描测试技术领域，具体涉及一种可扩展型边界扫描测试系统。

背景技术

随着封装技术、微组装技术及裸芯片技术的发展与广泛应用，电路系统朝着高密度、高速度、高可靠和微型化方向快速发展。军事电子装备中已大量使用高密的PCB（Printed Circuit Board，PCB）、MCM（Multi-Chip Module，MCM）、板上系统SoB（System on Board，SoB）、片上系统SoC（System on Chip，SoC）和裸芯片等新工艺和新技术的高密度系统集成组件，从而显著改善了军事电子装备的性能。这些军事电子装备在功能、技术指标和可靠性得到很大程度提高的同时，测试和维修的难度也大大增加，常规物理探针手段已经难以完成这些复杂系统的测试，因此迫切需要解决高密度复杂电子设备的测试问题，提高与改善电路系统的可测性与可维护性。

边界扫描测试技术以其特有的“虚拟探针”功能，为解决高密度系统集成组件的测试难题提供了强有力的手段。边界扫描测试技术以IEEE1149.X系列标准的颁布和应用为标志，是一种得到了广泛应用并不断快速发展的主流可测性设计技术。IEEE1149.X系列标准是国际上在上世纪九十年代到本世纪初形成的一种电子系统可测性设计标准，该系列标准规范了边界扫描测试结构，涵盖了数字电路边界扫描测试（IEEE1149.1）、数模混合电路边界扫描测试（IEEE1149.4）、模块测试与维护总线（IEEE1149.5）以及高速数字电路边界扫描测试（IEEE1149.6）等内容，该系列标准的应用是提高电路系统可测性的主流技术，其中的IEEE1149.1标准，也称JTAG（Joint Test Action Group，JTAG）标准，JTAG标准因其所需提供额外可测性成本低、方便高效等特点而成功应用，提高了军事电子装备系统集成组件的可测性和可维护性。

目前大部分大规模器件如FPGA、DSP和微处理器等都支持边界扫描接口，可在一定程度上完成复杂电路系统的可测性设计，但在国内支持IEEE1149.X系列标准的通用实用化边界扫描测试平台较少，且对边扫器件外围电路的测试覆盖率不高，测试通用性不强，亟需改进。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种可扩展型边界扫描测试系统，本测试系统不但可以适用于多种接口数字电路板的测试，而且本测试系统对单板测试覆盖不到的外围电路及接线也能进行有效的测试覆盖，从而扩大了数字电路板上边界扫描测试的覆盖范围，降低了测试成本。

为实现上述目的，本实用新型采用了以下技术方案：一种可扩展型边界扫描测试系统，其包括如下组成部分：

测试计算机，用于依次通过以太网接口和以太网控制器向JTAG控制器发出测试指令，并依次通过以太网控制器和以太网接口接收自JTAG控制器处发送来的测试结果；

JTAG控制器，用于接收测试计算机发送来的测试指令，并产生符合JTAG标准的JTAG测试向量，所述JTAG控制器通过JTAG接口与被测件上的边界扫描器件双向通信相连，所述JTAG控制器还通过边界扫描扩展模块与被测件上的接口连接器相连；

边界扫描扩展模块，用于通过JTAG接口接收JTAG控制器发送来的JTAG测试向量并产生测试信号，边界扫描扩展模块对被测件发送用于测试覆盖被测件上的接口连接器处待测器件的测试信号及接收测试结果，所述测试结果通过JTAG接口传送至JTAG控制器；

电源，用于向以太网控制器、JTAG控制器、边界扫描扩展模块提供用电。

同时本实用新型还可以通过以下方式得以进一步实现：

优选的，所述JTAG控制器包括如下组成部分：

边界扫描控制器，用于依次通过以太网接口和以太网控制器接收测试计算机发送来的测试指令，并产生符合JTAG标准的JTAG测试向量，所述边界扫描控制器依次通过以太网控制器和以太网接口向测试计算机发送测试结果；所述边界扫描控制器还与JTAG路由器通过标准JTAG信号连接；

JTAG路由器，用于通过多路JTAG接口与被测件上的JTAG接口对应相连，所述JTAG路由器控制所述多路JTAG接口向被测件和边界扫描扩展模块同时发送JTAG测试向量并采集测试结果，然后将所采集到的测试结果传送至边界扫描控制器；所述JTAG路由器与边界扫描扩展模块采用标准JTAG信号连接；

电源与边界扫描控制器和JTAG路由器均为电连接。

优选的，所述边界扫描扩展模块包括如下组成部分：