[实用新型]一种X-射线层析设备模拟装置有效

专利信息
申请号: 201220462255.6 申请日: 2012-09-11
公开(公告)号: CN202821395U 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 刘红林;章健 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技有限公司
主分类号: A61B6/02 分类号: A61B6/02;G01N23/04
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 201815 上海市嘉定*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 射线 层析 设备 模拟 装置
【权利要求书】:

1.一种X-射线层析设备模拟装置,包括X-射线源、被测物体、探测装置,其特征在于,至少还包括调节系统,所述调节系统用以支撑并调节所述X-射线源、被测物体和探测装置中任意一个或任意组合的位置、方向或角度。 

2.如权利要求1所述的X-射线层析设备模拟装置,其特征在于,所述调节系统包括支撑并调节所述X-射线源的第一调节装置、支撑并调节所述被测物体的第二调节装置、以及支撑并调节探测装置的第三调节装置。 

3.如权利要求2所述的X-射线层析设备模拟装置,其特征在于,所述第一调节装置与第三调节装置的自由度之和大于等于6。 

4.如权利要求3所述的X-射线层析设备模拟装置,其特征在于,所述第二调节装置的自由度不小于6。 

5.如权利要求3所述的X-射线层析设备模拟装置,其特征在于,所述第一调节装置具有6个自由度,所述第三调节装置具有6个自由度。 

6.如权利要求2所述的X-射线层析设备模拟装置,其特征在于,所述第一调节装置、第二调节装置和第三调节装置中的任一均至少包括θZ角度调节模块、水平度θX、θY调节模块、Z方向升降调节模块和XY水平位置调节模块。 

7.如权利要求6所述的X-射线层析设备模拟装置,其特征在于,所述第二调节装置的θZ角度调节模块的角度调节范围为0~360度。 

8.如权利要求1所述的X-射线层析设备模拟装置,其特征在于,X-射线源、被测物体和探测装置中的至少两个设置在同一运动轨道上;或者用以调节所述X-射线源、被测物体和探测装置的所述调节装置至少两个设置在同一运动轨道上。 

9.如权利要求8所述的X-射线层析设备模拟装置,其特征在于,所述运动轨道的形状为圆形、直线、S形状、或8字形。 

10.如权利要求1所述的X-射线层析设备模拟装置,其特征在于,所述调节系统为可编程控制的机械臂、导轨、升降台或其组合。 

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