[实用新型]一种高性能半导体器件有效

专利信息
申请号: 201220468753.1 申请日: 2012-09-14
公开(公告)号: CN202816933U 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 罗艳玲 申请(专利权)人: 杰群电子科技(东莞)有限公司
主分类号: H01L23/532 分类号: H01L23/532
代理公司: 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 代理人: 雷利平
地址: 523750 广东省东莞市黄江镇裕元工*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 性能 半导体器件
【权利要求书】:

1.一种高性能半导体器件,包括电路基板(1)和管脚(2),其特征在于:还包括分别设置于对应的电路基板(1)上的MOS芯片(3)和IC芯片(4),所述MOS芯片(3)通过铜线(5)分别与管脚(2)和电路基板(1)电连接,所述IC芯片(4)通过金线(6)分别与MOS芯片(3)、管脚(2)和电路基板(1)电连接。

2.如权利要求1所述的一种高性能半导体器件,其特征在于:还包括引线框架(7),所述管脚(2)和电路基板(1)设置于引线框架(7)的焊接区。

3.如权利要求2所述的一种高性能半导体器件,其特征在于:所述引线框架(7)的焊接区对应的外部设置有散热片(8)。

4.如权利要求1所述的一种高性能半导体器件,其特征在于:所述铜线(5)和金线(6)表面均包覆有包覆层。

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