[实用新型]一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备

权利要求书

1.一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备，用于对若干个待测发光二极管进行测试，其特征在于，包括：主恒流源、若干个副恒流源电路和测试部，所述主恒流源与若干个副恒流源电路并联后与测试部串联，所述副恒流源电路包括一个副恒流源和若干个副恒流源开关，副恒流源与并联后的若干个副恒流源开关串联，所述测试部包括一个数据采集板卡，以及与数据采集板卡并联的若干测试通道，每条测试通道包括依次串联的第一测试开关、第一测试点、待测发光二极管、第二测试点和第二测试开关。

2.根据权利要求1所述的一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备，其特征在于，每个副恒流源电路包括一个副恒流源和两个副恒流源开关。

3.根据权利要求1所述的一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备，其特征在于，所述副恒流源电路为一个，所述主恒流源的输出为1毫安，所述副恒流源的输出为179毫安。

4.根据权利要求1所述的一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备，其特征在于，所述副恒流源开关为程控开关。

5.根据权利要求1所述的一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括数据采集板卡，第一测试点和第二测试点分别与数据采集板卡连接。

6.根据权利要求1所述的一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备，其特征在于，所述测试通道为32条。