[实用新型]一种加速度计有效
申请号: | 201220488378.7 | 申请日: | 2012-09-21 |
公开(公告)号: | CN202815008U | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | 俞度立;于连忠;杨长春 | 申请(专利权)人: | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
主分类号: | G01P15/08 | 分类号: | G01P15/08 |
代理公司: | 北京金之桥知识产权代理有限公司 11137 | 代理人: | 林建军 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 加速度计 | ||
1.一种加速度计,包括:测量体、与所述测量体相连接的上盖板硅片以及下盖板硅片;所述测量体包括框架、位于所述框架内的弹性梁和质量块;其特征在于,所述质量块与所述框架通过多组所述弹性梁相连接,每组所述弹性梁包括两根弹性折叠梁,所述弹性折叠梁以所述质量块的中线为轴对称设置。
2.如权利要求1所述的加速度计,其特征在于,所述弹性折叠梁的两末端位于同一直线上。
3.如权利要求1所述的加速度计,其特征在于,所述质量块为矩形体,所述质量块的横截面为正方形。
4.如权利要求1所述的加速度计,其特征在于,所述弹性折叠梁的一端分别与所述质量块的转角处相连接。
5.如权利要求1所述的加速度计,其特征在于,所述测量体为双面绝缘体上外延硅结构,包括上硅层、中间硅层及下硅层;每两层硅层之间分别设置有二氧化硅层。
6.如权利要求5所述的加速度计,其特征在于,多个所述弹性梁分别对称地成形于所述上硅层和所述下硅层,形成双层结构。
7.如权利要求1所述的加速度计,其特征在于,所述测量体、所述上盖板硅片及所述下盖板硅片上分别设置有电极。
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