[实用新型]一种薄膜温度烧蚀复合传感器有效

专利信息
申请号: 201220494576.4 申请日: 2012-09-26
公开(公告)号: CN202956137U 公开(公告)日: 2013-05-29
发明(设计)人: 景涛;陈云峰;程文进;谢贵久;何迎辉;龙悦;黄华山;熊敏 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十八研究所
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02;B81C1/00
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 马强;陈建国
地址: 410111 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 薄膜 温度 复合 传感器
【权利要求书】:

1.一种薄膜温度烧蚀复合传感器,其特征在于,所述薄膜温度烧蚀复合传感器(1)包括基片(2),设于基片(2)上的过渡膜(3),设于过渡膜(3)上的薄膜热电偶阵列;所述薄膜热电偶阵列上设有保护膜(6);所述薄膜热电偶阵列由两个以上包括A电极(4)和B电极(5)的薄膜热电偶(10)构成;所述薄膜热电偶(10)包括将薄膜热电偶(10)的热电势信号引出的补偿导线(7)。

2.如权利要求1所述的薄膜温度烧蚀复合传感器,其特征在于,所述基片(2)直径为50mm~150mm,厚度0.5mm~1mm;所述过渡膜(3)厚度为0.05μm~0.1μm;所述薄膜热电偶(10)的厚度为0.2μm~0.5μm;所述保护膜(6)厚度为0.1μm~0.2μm。

3.如权利要求1所述的薄膜温度烧蚀复合传感器,其特征在于,所述薄膜热电偶(10)为R型热电偶、B型热电偶或S型热电偶。

4.如权利要求3所述的薄膜温度烧蚀复合传感器,其特征在于,所述薄膜热电偶(10)为R型热电偶。

5.如权利要求1所述的薄膜温度烧蚀复合传感器,其特征在于,所述基片(2)材料为Al2O3陶瓷;所述过渡膜(3)材料为Ta2O5;所述保护膜(6)为电介质材料。

6.如权利要求1所述的薄膜温度烧蚀复合传感器,其特征在于,所述保护膜(6)材料为SiO2

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