[实用新型]具有低导通电阻的栅压自举开关有效

专利信息
申请号: 201220495197.7 申请日: 2012-09-25
公开(公告)号: CN202906867U 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 谢循;方飞 申请(专利权)人: 泰凌微电子(上海)有限公司
主分类号: H03K17/687 分类号: H03K17/687
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人: 卢刚
地址: 201203 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 具有 通电 开关
【权利要求书】:

1.一种具有低导通电阻的栅压自举开关,包含:作为开关的金属氧化物半导体MOS晶体管(M1)、与该MOS晶体管(M1)相连的栅压自举电路,其特征在于, 

所述MOS晶体管(M1)的衬底通过一控制开关与本MOS晶体管(M1)的源端相连。 

2.根据权利要求1所述的具有低导通电阻的栅压自举开关,其特征在于, 

所述控制开关为MOS晶体管。 

3.根据权利要求2所述的具有低导通电阻的栅压自举开关,其特征在于, 

所述控制开关为所述栅压自举电路中,漏端与所述作为开关的MOS晶体管的源端和输入信号相连的MOS晶体管(M10); 

其中,所述漏端与所述作为开关的MOS晶体管的源端和输入信号相连的MOS晶体管(M10)的源端直接连接所述作为开关的MOS晶体管(M1)的衬底。 

4.根据权利要求1至3中任一项所述的具有低导通电阻的栅压自举开关,其特征在于, 

所述作为开关的MOS晶体管(M1)为N型MOS晶体管。 

5.一种具有低导通电阻的栅压自举开关,其特征在于,包含:由第一金属氧化物半导体MOS晶体管和第二MOS晶体管构成的开关、与该第一MOS晶体管相连的栅压自举电路; 

所述第一MOS晶体管的源极接输入信号,所述第一MOS晶体管的漏 极接所述第二MOS晶体管的源极; 

所述第二MOS晶体管的栅极接所述第一MOS晶体管的栅极;所述第二MOS晶体管的漏极作为输出信号输出; 

所述第一MOS晶体管的衬底与该第一MOS晶体管的源极短接;所述第二MOS晶体管的衬底与该第二MOS晶体管的漏极短接。 

6.根据权利要求5所述的具有低导通电阻的栅压自举开关,其特征在于, 

所述第一MOS晶体管和第二MOS晶体管均为N型MOS晶体管。 

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