[实用新型]极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统有效

专利信息
申请号: 201220511774.7 申请日: 2012-10-08
公开(公告)号: CN202885836U 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 潘亮;赵建科;张周锋;田留德;高博;段炯 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 姚敏杰
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 极端 温度 条件下 经纬仪 水平 一测回 精度 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统,其特征在于:所述极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统包括数据采集控制计算机、自准直仪、恒温试验箱、多齿分度台以及与待测经纬仪固定连接的平面反射镜;所述多齿分度台设置在恒温试验箱内部并与数据采集控制计算机通过线缆电性连接;所述恒温试验箱的侧壁上设置有光学窗口;待测经纬仪设置在多齿分度台上;所述自准直仪通过光学窗口与平面反射镜相对并处于等高位置;所述数据采集控制计算机分别与多齿分度台以及自准直仪相连。

2.根据权利要求1所述的极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统,其特征在于:所述极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统还包括照准部固定支架;所述待测经纬仪通过照准部固定支架设置在多齿分度台上;所述平面反射镜设在照准部固定支架的侧壁上。

3.根据权利要求2所述的极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统,其特征在于:所述待测经纬仪与多齿分度台同轴设置。

4.根据权利要求3所述的极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统,其特征在于:所述恒温试验箱上还包括过线孔;所述连接多齿分度台与数据采集控制计算机的线缆穿过过线孔。

5.根据权利要求1或2或3或4所述的极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统,其特征在于:所述自准直仪是二维自准直仪。

6.根据权利要求5所述的极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统,其特征在于:所述二维自准直仪可在±15′的视场内同时给出X向方位测量值和Y向俯仰测量值。

7.根据权利要求6所述的极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统,其特征在于:所述二维自准直仪的测角精度是0.1″。

8.根据权利要求7所述的极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统,其特征在于:所述多齿分度台是电控多齿分度台,所述多齿分度台的角度均分精度为0.1″。

9.根据权利要求8所述的极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统,其特征在于:所述平面反射镜的面形精度的RMS值是λ/20,所述平面反射镜的反射率为99%。

10.根据权利要求9所述的极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统,其特征在于:所述恒温试验箱的温度设定范围是-55℃~+80℃,所述恒温试验箱的温度稳定度是±0.5℃。

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