[实用新型]内孔双键槽对称度和深度测量仪有效
| 申请号： | 201220515938.3 | 申请日： | 2012-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN202793292U | 公开（公告）日： | 2013-03-13 |
| 发明（设计）人： | 顾琳炎;曹冬美;王骏;周小模 | 申请（专利权）人： | 无锡职业技术学院 |
| 主分类号： | G01B5/25 | 分类号： | G01B5/25;G01B5/18 |
| 代理公司： | 南京君陶专利商标代理有限公司 32215 | 代理人： | 奚胜元 |
| 地址： | 214121 江苏省无锡*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 双键 对称 深度 测量仪 | ||
【权利要求书】：
1.一种内孔双键槽对称度和深度测量仪，其特征在于：包括基体、第一测量副尺、第二测量副尺、数显千分表和表座，表座与基体之间通过燕尾导轨相联接，表座在基体上左右往复移动；数显千分表通过间隙配合与表座装配在一起，并用第三锁紧螺钉进行固定；第一测量副尺和第二测量副尺分别通过燕尾导轨与基体相联接，并分别用第一锁紧螺钉和第二锁紧螺钉进行固定。
2.根据权利要求1所述的内孔双键槽对称度和深度测量仪，其特征在于：所述的第一锁紧螺钉、第二锁紧螺钉和第三锁紧螺钉为内六角锁紧螺钉。
3.根据权利要求1所述的内孔双键槽对称度和深度测量仪，其特征在于：在所述的第一测量副尺和第二测量副尺上均刻有刻度。
4.根据权利要求1所述的内孔双键槽对称度和深度测量仪，其特征在于：所述的第一测量副尺和第二测量副尺是根据测量的键槽深度进行选择相应测量范围的测量副尺。
5.根据权利要求1所述的内孔双键槽对称度和深度测量仪，其特征在于：所述的数显千分表是根据被测内孔的孔径来选择相应测量范围的数显千分表。
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