[实用新型]溴化钾及工作场所空气中粉尘样品的研磨装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种研磨装置，尤其涉及一种在“工作场所粉尘中游离二氧化硅含量的测定-红外光谱法”中对溴化钾及工作场所空气中粉尘样品的研磨装置。

背景技术

红外光谱法因其快速、方便而逐渐取代传统焦磷酸法用于粉尘中游离二氧化硅含量的测定。红外光谱法是通过称取一定量的粉尘样品与一定量的溴化钾粉末充分混合后压成薄片，然后对薄片进行红外光谱扫描进而得到粉尘样品中游离二氧化硅的含量。红外光谱法对样品有以下要求：一是溴化钾粉末及粉尘样品必须经过充分均匀研磨，且经过200目筛后再称量混匀压片；二是在研磨过程中要始终保持样品干燥，因此在研磨溴化钾及粉尘样品时，研磨人员必须带口罩；三是必须用玛瑙研磨。目前，实验室均采用玛瑙研钵手工研磨溴化钾及粉尘样品，实验中溴化钾需要量较大，用玛瑙研钵一次只能研磨2-3克，每研磨一批需要2-3个小时；而含游离二氧化硅的粉尘样品的硬度很高，想要研磨达到实验要求，往往研磨几个小时才能磨好1-2克。费时费力且不容易达到制样要求，并且如果实验人员长期研磨容易得腱鞘炎，不利于职业卫生。

目前，电动研磨装置像球磨机等均适用于大量物质的研磨，而适用于实验室的少量且超硬物质的研磨装置极少。专利号CN201020573632.4玛瑙研钵矿物材料研磨机可用于少量超硬材料的研磨，用此装置进行实验用溴化钾和粉尘样品的研磨有以下弊端：第一，其锤头加研钵的设计使研磨面很小，研钵内的大部分粉末会被挤到四周得不到研磨，致使研磨不均匀，研磨完毕后还要单独过200目筛，这样使得操作步骤复杂，增加了溴化钾和粉尘样品受污染的风险。第二，其研钵内一次只能放入2-3克的样品，每磨2-3克样品必须把加样、研磨、转移样品的过程操作一遍，操作较繁琐。第三，此装置是敞开式的，空气中的灰尘和水蒸汽容易在研磨过程中进入样品中，从而污染样品。

实用新型内容

本实用新型的目的就是为解决上述问题，提供一种溴化钾及工作场所空气中粉尘样品的研磨装置。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种二氧化硅粉末及含二氧化硅粉尘研磨装置，包括机头、进样装置和研磨装置；所述机头包括顶部和下部，机头顶部内置一个动力装置，机头下部包括一个机罩，所述的研磨装置包括上磨和下磨，上磨的下表面和下磨的上表面进行配合，所述的动力装置驱动上磨运行，所述进样装置安装在上模上，在机头的下方有一个收集装置，所述的收集装置内表面与下磨相配合，外表面与机罩相配合，在所述的收集装置上有一个目筛，所述的上磨和下磨为玛瑙磨。

所述的上磨是一个扁圆柱体，上磨的下表面和下磨的上表面通过凹槽和突起进行配合，上磨的中心线一侧有一个贯穿上磨的圆柱形通道，通道的上端与进样装置相通。

所述的下磨分为两个部分，上面的扁圆柱体的底面与上磨底面的半径相同，下磨的下半部分是比上半部分底面半径略小一点的圆柱体。

所述的动力装置包括一个减速机，减速机通过一个压紧装置和传动杆与上磨的上表面相连。

所述的进样装置为一个V形样品储藏室。

所述的动力装置包括一个减速机，减速机通过一个压紧装置和传动杆与上磨的上表面相连。

所述收集装置包括圆环形的不锈钢盒子，盒子的内径大于下磨的下半部分的底面半径小于上半部分的底面半径，外径与机罩的半径相同，并通过四个锁扣与机罩相配套；盒子的高度与下磨的下半部分相同；盒子的上端的目筛由200目筛网制成的圆环形的可自由拿下的盖；收集盒由下磨的下端套入与机罩相连接并通过锁扣卡紧。

所述传动杆是一个圆柱形的不锈钢短杆，它的两端均设有十字形突起，一端与机头的压紧装置相卡接，一端与上磨上表面中心的十字凹槽相卡接。

所述弹簧压紧装置包括不锈钢圆环，圆环的中间是一段长于此圆环的弹簧，圆环的一端与减速机相连，圆环的另一端设有一个十字形的凹槽，与设有十字形突起的传动杆卡接。

在使用时，将上磨下磨及收集装置卡好，将将溴化钾或含游离二氧化硅的粉尘样品注满进样通道及样品储藏室，接上传动杆和机头，将四个锁扣锁好，开始机头上的减速机，减速机通过压紧装置、传动杆使上磨转动，减速机运行产生的微小的振动使溴化钾或含游离二氧化硅的粉尘样品通过进样通道进入上磨与下磨之前的研磨面而得到研磨，通过不断的研磨和进样，研磨面上最先进入的样品边被研磨边向四周移动最终通过200目筛后进入收集装置中储存，等磨完样品储藏室中的所有样品后，打开机罩拿掉机头、上磨，将上下磨研磨表面上的磨好的样本用小刷子扫到四周通过200目筛进入收集装置，之后将没过筛的样品倒入样品储藏室重新研磨。