[实用新型]电磁干扰屏蔽结构有效

专利信息
申请号: 201220525526.8 申请日: 2012-10-15
公开(公告)号: CN202889867U 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 宋云兴 申请(专利权)人: 联茂电子股份有限公司
主分类号: H05K9/00 分类号: H05K9/00
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人: 郑利华
地址: 中国台湾桃*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 电磁 干扰 屏蔽 结构
【权利要求书】:

1.一种电磁干扰屏蔽结构,其特征在于,该电磁干扰屏蔽结构包含:

一介电层,具有一第一面与一第二面;

一第一金属层,位于该介电层的该第一面上;及

一第二金属层,位于该介电层的该第二面上;

其中,该第一金属层的厚度为0.002~12微米,及该第二金属层的厚度为0.002~12微米。

2.根据权利要求1所述的电磁干扰屏蔽结构,其特征在于,该第一金属层为金、银、铜、铁、锡、铅、钴、铝、镍或以上金属为主成份的合金。

3.根据权利要求1所述的电磁干扰屏蔽结构,其特征在于,该第二金属层为金、银、铜、铁、锡、铅、钴、铝、镍或以上金属为主成份的合金。

4.根据权利要求1所述的电磁干扰屏蔽结构,其特征在于,该介电层选自由聚酰亚胺、聚乙烯、环氧树脂、聚对苯二甲酸乙二酯、聚碳酸酯、聚丙烯、双马来酰亚胺及压克力系统高分子的任一族群所构成的材质。

5.根据权利要求1所述的电磁干扰屏蔽结构,其特征在于,该介电层的厚度为5~200微米。

6. 根据权利要求1所述的电磁干扰屏蔽结构,其特征在于,该介电层包含一填充材料。

7.根据权利要求1所述的电磁干扰屏蔽结构,其特征在于,该电磁干扰屏蔽结构更包含一黏着层。

8.根据权利要求1所述的电磁干扰屏蔽结构,其特征在于,该电磁干扰屏蔽结构更包含一离型层。

9.根据权利要求7所述的电磁干扰屏蔽结构,其特征在于,该黏着层的厚度为1~500微米。

10.根据权利要求8所述的电磁干扰屏蔽结构,其特征在于,该离型层的厚度为1~50微米。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联茂电子股份有限公司,未经联茂电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201220525526.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top