[实用新型]一种X-PROBE测试夹具板材叠层结构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种X-PROBE测试夹具板材叠层结构。

背景技术

X-PROBE测试夹具是指利用X-PROBE探针(见图1)进行线路板测试的ICT夹具。当前常规叠层结构的X-PROBE测试夹具由于针板太厚，钻孔进度无法达到理想要求，导致ICT夹具探针定位精度不高，探针安装和更换困难致损坏探针的现象，严重影响夹具制作品质。

传统的X-PROBE测试夹具常规的板材叠层机构，由针板、间隔板和端子板组成。X-PROBE探针安装时，通过针板和间隔板上与其相匹配的过孔(过孔直径比X-PROBE探针直径大0.02-0.04mm)安装到X-PROBE端子上，X-PROBE探针的定位精度由针板和间隔板钻孔的直径、位置和垂直度决定。钻孔直径过大，X-PROBE探针安装后会发生倾斜，针尖的定位精度会受到影响，钻孔直径过小，则插不进去。钻孔位置偏离，X-PROBE探针安装的位置也会跟着偏离，定位精度也会受到影响。钻孔不垂直，X-PROBE探针安装后也不垂直，针尖偏离正常位置，定位精度同样受到影响。由此可见，常规叠层结构的X-PROBE夹具，受钻孔设备、工具及工艺等因素的影响非常大，比如受钻孔刀具刃长的限制，三块板材需分开钻孔，各板材钻孔时，受定位、板材密度、刀具磨损程度等因素影响，板材的钻孔品质各不相同，其孔在叠加后极易出现错位，上下板孔轴线

交叉等现象，制作出来的测试夹具，不仅测试精度不高，而且探针安装和更换也都非常困难，严重影响了夹具的日常使用和维护，因此，X-PROBE测试夹具的测试精度不高和难以维护的问题急待改善。

实用新型内容

本实用新型为了解决现有技术的上述不足，提供了一种X-PROBE测试夹具板材叠层结构。

本实用新型的上述目的通过以下的技术方案来实现：一种X-PROBE测试夹具板材叠层结构，包括针板、间隔板和端子板，其特征在于：所述针板上层设有上导针板，所述针板和间隔板之间也设有下导针板。

所述针板、下导针板、间隔板、端子板之间均设有密封垫，所述密封垫的厚度为0.5mm。以替代原来的密封圈，使夹具气密封性更好。

本实用新型与现有技术相比的优点是：

1、X-PROBE探针不再利用针板和间隔板孔壁定位，改用上导针板和下导针板的孔壁定位，因上导针板和下导针板为较薄的板材(1-5mm)，刀具在钻孔时不易让刀，易于贯穿，钻出的孔较为垂直，能有效提高X-PROBE探针安装时的垂直度；

2、将不再用于X-PROBE探针定位的针板、间隔板过孔直径钻大，使其孔壁与X-PROBE探针有足够的间隙，消除了其孔壁与X-PROBE探针7的摩擦力，使X-PROBE探针很容易安装和更换。使用此实用新型叠层机构的X-PROBE测试夹具更易于维护；

3、在针板、下导针板、间隔板、端子板之间铺设整层的密封垫，相比常规叠层结构局部放置密封圈的密封效果更好。局部设置密封圈的常规叠层结构，板材结合时，因受力不均容易导致板材变形，密封效果不佳，改用整层铺设的密封垫，解决板材结合时产生的变形，板材贴合更平整更紧密，夹具气密性好。

附图说明

图1是X-PROBE探针7的结构示意图；

图2是X-PROBE端子的结构示意图；

图3是本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型进一步详述：

如图3所示，一种X-PROBE测试夹具板材叠层结构，包括针板1、间隔板2和端子板3，其特征在于：所述针板1上层设有上导针板4，所述针板1和间隔板2之间也设有下导针板5。

同时，将上导针板4、下导针板5钻成与X-PROBE探针7直径相匹配的孔径，以控制X-PROBE探针7的精度和垂直度，将针板1和间隔板2的钻孔直径加大，使其孔壁与X-PROBE探针7有充分的间隙，以降低孔壁与探针的摩擦力，降低板材错位的机率，以降低X-PROBE探针7安装和更换的难度。

所述针板1、下导针板5、间隔板2、端子板3之间均设有密封垫6，以替代原来的密封圈，使夹具气密封性更好。

本实用新型的实施步骤如下：

1、在传统的X-PROBE测试夹具叠层结构上增加上导针板4、下导针板5、密封垫6，产品总厚度与传统叠层结构相同，同时降低针板1、间隔板2的厚度，使板材叠层厚度同常规叠层结构一样；