[实用新型]改良的检测治具

说明书

技术领域

本实用新型是有关一种改良的检测治具，尤指一种设置简便、快速、经济，可提升被测物品质和良率，及可提高检测准确度与降低不良品产生效果，而极符实际适用性、理想性和进步性的检测治具。

背景技术

一般具有多个检测点(如电子元件接点)的诸如印刷电路板、半导体封装元件或晶圆等制成后，均需通过一种专用治具予以检测，借以确认是否为良品或有无断路现象。按现有习知业界所采用检测该诸如印刷电路板、半导体封装元件或晶圆等被测物的方式，大抵如图1所示，是在检测治具10上表面设置有若干支检测探针20，该若干支检测探针20配合被测物30底面的各检测点(图未示)位置设置；另外，在检测治具10的下方设有底座11，及在底座11的四周配置有接头12，而所述多个接头12与电路测试机的排线(图未示)相连接导通。

当检测被测物30时，预先将电路测试机的排线插入接头12，再将被测物30对应放置在检测治具10的检测探针20上，借由检测探针20与被测物30底面的检测点接触后，电路测试机便可显示被测物30是否有断路或不良等现象。

上述，为使该被测物30的诸检测点的检测具有确实性，及为了使被测物30下压于检测探针20实施检测时，该检测探针20或检测点避免发生被破坏现象，该检测探针20设置呈可弹性伸缩动作。

该检测探针20设置的种类，及安设在检测治具10弹性伸缩动作的方式繁多，如图2、图3所示，该检测探针20是分别插置在探针套筒21内，而该探针套筒21分别插置定位在与被测物30的诸多检测点301呈相对应的针板13的针孔131内；其中，该探针套筒21的底端分别安置有导线22，其连接于相对应的接头12，及在内部装设有弹性元件23，而检测探针20插入探针套筒21后，其底端恰被弹性元件23顶承而可产生弹性伸缩动作，及上端检测端201呈外露状。另，如图4、图5、图6所示，其等是不同形态的检测治具10和检测探针20，该检测探针20均直接插设在针板13的上半部针孔132，并令下端被放置在针板13内的弹性元件23顶承保持弹性伸缩动作，及该上端检测端201且外露于针板13上表面，使可对应接触到被测物30的检测点301，而在弹性元件23下端则安设有导线22连接于相对应的接头12。

上述检测探针20对被测物30实施检测的动作，主要是利用检测机对被测物30施力下压，使所述多个与检测探针20相对应的检测点301，可确实与检测探针20的检测端201相触及，进而在导线22的电传配合下，该被测物30便可完成预期的检测目的和效果。其中，当检测机将被测物30下压实施检测动作时，通过该检测探针20可弹性伸缩动作，该检测探针20和检测点301将具有缓冲性，并可借以改善相互强力触压所发生的破坏现象。

不可否认，上述实施方式确实可使被测物达到检测的目的和效果，但是，历经长时的使用后，使用者会发觉仍有些许美中不足的缺失，而可待且必须加以改善。即：

1、由于检测探针20均设为极细，甚至有些检测端201设成尖锥状，当被测物30受压致检测点301与对应检测探针20的检测端201相触及时，最常发生的，莫过于所述多个检测点301被检测探针20刺伤产生针痕，甚至造成破坏现象，而此，不但会影响被测物的品质，亦会降低被测物的良率。

2、为了使检测探针20具有弹性伸缩动作性，通常检测治具10均必需设置若干数量的相叠置针板13，并分别在其上钻设针孔131、132，使分别供弹性元件23和检测探针20置入，而此众多针板13的设置，不但会增加成本，更有分别钻设针孔131、132和逐一实施组装的麻烦、不便和费时、费工缺点。

3、承上项所述，为了使检测探针20可准确对应到被测物的检测点301，工作人员必须将诸多细小的检测探针20逐一对准插设到预定针孔131、132内，不但有实施麻烦、不便和费时、费工的缺点，亦会直接增加品检的困难度和负担。

4、由于被测物30制作时，会发生防焊偏的不精确情形(如PC板的防焊发生微幅偏移情形)，或制作检测治具10时，会发生针板13的钻孔微幅偏移情形，导致组装完成的检测探针20实施检测动作时，该检测端201无法准确对应到检测点301，而可能会对应到检测点301与防焊部位衔接处，依此，在该检测探针20呈硬质金属材的情形下，必然的，该检测端201将极易直接接触定位在防焊位置，导致发生误测、误判的检测不准确情形，甚而造成被测物形成不良品现象。

承上项所述，当被测物30因误测而形成不良品时，不但有重测的麻烦、不便和不经济缺点，更有造成弃置的不环保的缺点。