[实用新型]一种高效电器寿命测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电器寿命测试领域，更具体的说涉及一种高效电器寿命测试装置。

背景技术

在进行电器开关的寿命测试时，无论是采用哪一个标准，都要进行电器寿命耐受力测试，这个测试是所有测试的关键过程，同时也是耗时最长的实验。

按相关的标准，每个被测开关要作常开/常闭两种独立实验，而每一个独立实验要作交、直流的不同测试，每个测试包括两个不同的测试点（高电压低电流和低电压高电流），也就是说，每个开关需要分别作6种不同的测试。

按照相关的标准（诸如UL508、EN60947-5-1或GB14048.5），耐受力实验的频率为接通1秒，断开9秒（每次10秒），共作5000次，全部完成时间为13.9小时，为了能目击到实验的结果（UL实验需由UL公司来人现场目击），一般只能晚上开始测试，第二天早上来看结果，因此一个完整实验需要8天时间，效率非常低。

有鉴于此，本发明人针对现有技术中的上述缺陷深入研究，遂有本案产生。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种高效电器寿命测试装置，以解决现有测试装置存在测试效率低下的问题。

为了达成上述目的，本实用新型的解决方案是：

一种高效电器寿命测试装置，其中，包括控制器、切换开关以及至少两条测试通路，每条测试通路可接入一待测电器开关并对其进行测试，每条测试通路中均包括一个用于控制当前测试通路对应待测电器开关进行常开或常闭实验的测试开关，该控制器检测获得所有测试开关的工作状态，该切换开关与至少两条测试通路均相连并在控制器的控制下择一地导通其中一条测试通路，该处于导通的测试通路处于常闭实验状态时，其余测试通路处于常开实验状态。

进一步，该至少两条测试通路为第一测试通路、第二测试通路和第三测试通路，该控制器在第一测试通路处于9s常开状态过程时，依次将切换开关切换至第二测试通路和第三测试通路，在切换至第三测试通路时第二测试通路处于常开状态，并在第一测试通路处于常闭状态时切换回来。

采用上述结构后，本实用新型涉及的一种高效电器寿命测试装置，其在一条测试通路处于常开实验状态时，可以利用切换开关让其他条测试通路处于常闭实验状态，如此可以同时对至少两台待测电器开关进行寿命测试。与现有的电器寿命测试台只能一个一个开关测试相比，本实用新型平均每台测试时间大大缩短，测试效率也大大提高。

附图说明

图1为本实用新型涉及一种高效电器寿命测试装置的原理框图；

图2为本实用新型第一实施例的程序框图；

图2A为本实用新型第一实施例配置三条测试通路时的电路示意图；

图2B为本实用新型第一实施例配置三条测试通路时的对比波形图；

图3为本实用新型第二实施例的电路示意图。

图中：

高效电器寿命测试装置   100

控制器                 1         切换开关            2

至少两条测试通路       3         第一测试通路        31

第二测试通路           32        第三测试通路        33

测试开关               4。

具体实施方式

为了进一步解释本实用新型的技术方案，下面通过具体实施例来对本实用新型进行详细阐述。

如图1所示，本实用新型涉及的一种高效电器寿命测试装置100，包括控制器1、切换开关2以及至少两条测试通路3，每条测试通路可接入一待测电器开关并对其进行测试，每条测试通路中均包括一个测试开关4，该测试开关4用于控制当前测试通路对应待测电器开关进行常开或常闭实验。

该控制器1与所有测试开关4和切换开关2均相连，该控制器1检测获得所有测试开关4的工作状态，该切换开关2与至少两条测试通路3均相连并在控制器1的控制下择一地导通其中一条测试通路，该处于导通的测试通路处于常闭实验状态，其余测试通路处于常开实验状态。

具体地，在图1所示的原理图中，该至少两条测试通路3为第一测试通路31、第二测试通路32和第三测试通路33，该控制器1在第一测试通路31处于9s常开状态过程时，依次将切换开关2切换至第二测试通路32和第三测试通路33，在切换至第三测试通路33时第二测试通路32处于常开状态，并在第一测试通路31处于常闭状态时切换回来。