[实用新型]一种辐射粒子探测器及应用该探测器的辐射粒子探测系统有效
| 申请号： | 201220558477.8 | 申请日： | 2012-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN203149125U | 公开（公告）日： | 2013-08-21 |
| 发明（设计）人： | 董洋;张强;杨亚聃;王滨;陈国民;丁飞 | 申请（专利权）人： | 北京新立机械有限责任公司 |
| 主分类号： | G01T1/00 | 分类号： | G01T1/00 |
| 代理公司： | 北京市京大律师事务所 11321 | 代理人： | 李光松 |
| 地址： | 100039 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 辐射 粒子 探测器 应用 探测 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种辐射粒子探测器，其特征在于：在绝缘条上依次层叠4层涂覆硼的GEM膜，在最上面那层涂覆硼的GEM膜上再层叠涂覆硼的铝膜，其中GEM膜为辐射粒子探测膜简称。
2.根据权利要求1所述的辐射粒子探测器，其特征在于：所述GEM膜结构如下：在50μm的聚酰亚氨树脂层的两面上均依次设置10μm的铜板，20μm的氧化铜层（2-2-5），1μm的氧化铝膜（2-2-4），1μm的硫酸硼层（2-2-3），5μm的铅膜（2-2-2）及3μm的碳纤维层（2-2-1）。
3.根据权利要求1所述的辐射粒子探测器，其特征在于：所述绝缘条为0.8mm间距的x-y绝缘条。
4.一种辐射粒子探测系统，其包括权利要求1至3任意一个权利要求所述的辐射粒子探测器。
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