[实用新型]一种多标签测试读卡器及测试平台

说明书

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，尤其涉及一种多标签测试读卡器及测试平台。

背景技术

随着社会的发展和科技的进步，射频识别（Radio Frequency Identification，RFID）技术在全球范围内吸引了众多的厂商参与其相关技术及芯片的研发。RFID技术是一种利用射频信号通过空间耦合，如交变磁场或电磁场耦合实现无接触信息传递，并通过所传递的信息达到识别目的的技术。

目前在众多的RFID应用方案中都以功能简单的单片机作为微处理器，使得RFID的应用在功能、速度、外围扩展上都受到了极大的限制。因此，急需一种多标签测试读卡器能在预设时间内依次对多个RFID有源标签进行测试，以提高RFID的应用在功能、速度上的大幅提升和更多的外围扩展上。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本申请实施例提供一种多标签测试读卡器及测试平台，以达到在预设时间内对多个有源标签测试速度更快，增加RFID技术在外围上应用的目的，技术方案如下：

本申请公开了一种多标签测试读卡器，包括：

电源转换模块；

存储模块；

用于在预设时间内采集多个有源标签数据，且工作在915MHz的射频通信模块；

与所述电源转换模块、所述存储模块和所述射频通信模块连接，用于控制所述射频通信模块进行射频通信，并处理从所述射频通信模块采集的数据且工作在915MHz的ARM嵌入式处理器；

与所述ARM嵌入式处理器连接，用于将所述ARM嵌入式处理器处理后的数据发送给个人计算机PC平台，并将所述PC平台的控制指令发送给所述ARM嵌入式处理器的网口通信模块；

与所述ARM嵌入式处理器连接，用于将所述多标签测试读卡器的串口信息输出给PC平台的串口通信模块。

进一步的，所述ARM嵌入式处理器包括S3C6410微处理器。

进一步的，所述射频通信模块包括CC1101芯片，所述CC1101芯片通过串行外设接口SPI与所述ARM嵌入式处理器连接。

进一步的，所述CC1101芯片是用于极低功耗的射频应用并且支持数据包处理、数据缓冲、突发传输、接收信号强度指示RSSI、空闲信道评估CCA的硬件芯片。

进一步的，所述存储模块包括：

用于存储上电后的引导加载程序的EN29LV160AB芯片；

用于存储内核和文件系统的K9F1216U0A芯片；

用于临时存储程序指令和数据的MT48LC16M16A2P芯片。

进一步的，还包括：用于对所述EN29LV160AB芯片进行烧写引导程序的JTAG接口；所述JTAG接口包括所述S3C6410微处理器的TCK、TDI、TMS、TDO和TRST管脚。

进一步的，所述网口通信模块包括DM9000芯片。

进一步的，所述串口通信模块包括MAX232芯片。

进一步的，还包括与所述电源转换模块相连的过流保护电路。

一种多标签测试平台，包括PC平台，其特征在于，还包括：与所述PC平台连接的如所述任意一项所述的多标签测试读卡器。

与现有技术相比，本申请的有益效果是：

在本申请中，射频通信模块在预设时间内实现与多个有源标签的无线通信，可以在预设时间内更加准确、快速的接收多个工作在915MHz频段的有源标签的数据，并传给ARM嵌入式处理器。ARM嵌入式处理器从射频通信模块中采集数据进而对采集的数据进行即时处理，保证在预设时间内处理多个有源标签的数据，采集速度更加快速，整体提高每次数据的测试速度，能够大大减少标签测试所花的时间。

进一步，PC平台与ARM嵌入式处理器之间通过网口通信模块通信，从而实现PC平台对读卡器的远程控制，即增加RFID在外围上的应用。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请的一种多标签测试读卡器结构示意图；

图2为本申请的一种多标签测试平台结构示意图；

图3为本申请的一种多标签测试平台一个具体实施例的结构示意图；

图4为本申请的一种多标签测试平台使用示意图。