[实用新型]非接触位移测量装置有效
| 申请号： | 201220561362.4 | 申请日： | 2012-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN202915900U | 公开（公告）日： | 2013-05-01 |
| 发明（设计）人： | 张万江;万龙;赵春庆;龙彦泽;孙凡;田野;王敬军;范杨雪 | 申请（专利权）人： | 沈阳建筑大学 |
| 主分类号： | G01B21/02 | 分类号： | G01B21/02 |
| 代理公司： | 辽宁沈阳国兴专利代理有限公司 21100 | 代理人： | 刘文生 |
| 地址： | 110168 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 接触 位移 测量 装置 | ||
1.非接触位移测量装置，由信号标记装置（2）、信号检测装置（3）、信号控制处理器（4）及执行机构（5）组成，其特征是由下述结构构成的：
对运行中的被检测工件（1）的某点进行信号标记的信号标记装置（2）；
待被检测工件（1）运行至某一指定距离S所在位置时，对信号标记装置（2）所做的标记进行实时检测的信号检测装置（3）；
接收通过信号标记装置（2）和信号检测装置（3）所发出信号信息，并对该信号信息进行综合比对，且输出位移信号的信号控制处理器（4）；
接收信号控制处理器（4）发出的位移信号信息的执行机构（5），执行机构（5）作出动作，从而整个装置完成对被检测工件（1）的位移测量。
2.根据权利要求1所述的非接触位移测量装置，其特征是所述的信号标记装置（2）发出的标记信号对被检测工件（1）进行激励、标记，发出的信号是光、气、磁或声信号。
3.根据权利要求1所述的非接触位移测量装置，其特征是所述的信号检测装置（3）检测的是光、气、磁或声信号对工件产生影响后的温度、介质密度、磁场或声波相关信号。
4.根据权利要求1所述的非接触位移测量装置，其特征是所述的执行机构（5）进行的动作为独立测量位移信号的信息或相连接设备构成结合装置的信号输出信息之一。
5.根据权利要求1、2、3或4所述的非接触位移测量装置，其特征是所述的信号标记装置（2）、信号检测装置（3）、信号控制处理器（4）以及执行机构（5）之间的连接为有线或无线的连接方式之一。
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