[实用新型]一种波长色散X荧光光谱仪的分光系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种波长色散X荧光光谱仪，尤其涉及一种波长色散X荧光光谱仪的分光系统。

背景技术

波长色散X荧光光谱仪是一种精确分析元素含量成份的精密仪器，广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域，在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。晶体分光系统是该仪器的核心装置。其工作原理是将样品中被X射线管激发出的各组份元素特征X射线通过前入射狭缝管入射到分光器中，在分光器中有一块对应待测元素的晶体，将符合待测元素的X射线荧光聚焦出射到计数管中，计数管将X射线光能信号转为电信号经过前主放放大传输到脉冲高度处理器处理，由专业的波谱测试软件分析出精确的含量。

实用新型内容

本实用新型目的是提出一种结构简单紧凑、易于安装与调节且性能良好的波长色散X荧光光谱仪的分光系统。

本实用新型的技术方案是这样实现的：

一种波长色散X荧光光谱仪的分光系统，包括依次连接的狭缝调节装置、入射狭缝管、分光器盒、出射狭缝管和计数管；所述分光器盒内设置有腔体，所述腔体内设置有托板角度调节装置，所述托板角度调节装置包括晶体托板、底座和手动调节轴，所述底座设置于所述腔体底部，所述底座上部与所述晶体托板连接，所述底座设置有调节槽，所述手动调节轴与所述调节槽连接。

优选地，所述腔体为圆形腔体；所述晶体托板与所述底座通过弹形片连接。

优选地，所述晶体托板上方的腔体内壁设置有铅封闭片。

优选地，所述入射狭缝管设置有入射孔，所述入射孔为梯形孔；所述出射狭缝管设置有出射孔，所述出射孔为梯形孔。

优选地，所述入射狭缝管两端接触面上设置有第一密封槽和第二密封槽，所述入射狭缝管与所述分光器盒通过所述第一密封槽连接。

优选地，所述第一密封槽、所述第二密封槽为O型密封槽。

优选地，所述出射狭缝管两端设置有第三密封槽和第四密封槽，所述出射狭缝管与所述分光器盒通过所述第三密封槽连接，所述出射狭缝管与所述计数管通过所述第四密封槽连接。

优选地，所述第三密封槽、所述第四密封槽为O型密封槽。

本实用新型产生的有益效果是：本实用新型提出的波长色散X荧光光谱仪的分光系统是一种分光效率高，背景噪声低，结构简易且真空密封度可靠的分光系统，其具体效果表现在以下几点：

1、加入狭缝调节装置消除机械加工中的公差影响及理论计算带来的误差；

2、前入射狭缝管的设计，加强入射到计数管的X射线荧光强度，提前计数率；

3、分光器盒内腔圆形的加工方便且在晶体托板上方圆弧部分粘贴铅皮减少背景噪声提高分光效率；

4、晶体托板角度调节装置带来手动操作的方便性且易控制。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型一种波长色散X荧光光谱仪的分光系统一个实施例外形剖视结构示意图；

图中：1狭缝调节装置；2入射狭缝管；3第二密封槽；4分光器盒；5晶体；6晶体托板；7弹形片；8晶体托板轴；9底座；10调节槽；11手动调节轴；12第三密封槽；13出射狭缝管；14第四密封槽；15计数管；16第一密封槽；17铅封闭片；18托板角度调节装置。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

根据图1所示的优选实施例，一种波长色散X荧光光谱仪的分光系统，包括依次连接的狭缝调节装置1、入射狭缝管2、分光器盒4、出射狭缝管13和计数管15；分光器盒4内设置有腔体，腔体内设置有托板角度调节装置18，托板角度调节装置18包括晶体托板6、底座9和手动调节轴11，底座9设置于腔体底部，底座9上部与晶体托板6连接，底座9设置有调节槽，手动调节轴11与调节槽连接；本实施例中优选腔体为圆形腔体，易于加工和安装定位；晶体托板6与底座9通过弹形片7连接。