[实用新型]一种非接触式直线位置测量装置有效
申请号: | 201220569914.6 | 申请日: | 2012-10-31 |
公开(公告)号: | CN202836499U | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 刘兆;耿振;蔡明 | 申请(专利权)人: | 北京京仪海福尔自动化仪表有限公司 |
主分类号: | G01B7/02 | 分类号: | G01B7/02 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;赵镇勇 |
地址: | 100011*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 接触 直线 位置 测量 装置 | ||
1.一种非接触式直线位置测量装置,其特征在于,包括磁钢构件、探头部件和磁场检测电路,所述磁钢构件用于形成测量所需的永久磁场,所述磁场检测电路设置在所述探头部件内部。
2.根据权利要求1所述的非接触式直线位置测量装置,其特征在于,所述磁钢构件由两个长方体磁钢组成,所述两个长方体磁钢为异向磁极正对安装,所述两个长方体磁钢外部均由磁屏蔽材料包裹。
3.根据权利要求2所述的非接触式直线位置测量装置,其特征在于,在所述磁钢构件的中心轴上开有安装孔。
4.根据权利要求1所述的非接触式直线位置测量装置,其特征在于,该装置还包括位移部件,所述位移部件用于通过移动使所述磁钢构件与所述探头部件产生相对位移。
5.根据权利要求1所述的非接触式直线位置测量装置,其特征在于,所述磁场检测电路通过数字方式将检测信号输出给控制电路。
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