[实用新型]一种平面度检测装置有效
申请号: | 201220571250.7 | 申请日: | 2012-10-26 |
公开(公告)号: | CN202928517U | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 谭治平;陈风顺;胡亚洁 | 申请(专利权)人: | 杭州诺尔康神经电子科技有限公司 |
主分类号: | G01B5/28 | 分类号: | G01B5/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310018 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 平面 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种检测装置,特别涉及一种平面度检测装置。
背景技术
现有的测量仪器如螺旋测微器和千分尺,螺旋测微器大多用于测量产品的直径,但手动操作,不方便,不能测圆度,也不能批量测产品的平面度;千分尺虽能测量产品的长度,也能测量直径,但也是不能批量测产品的平面度,手工操作不方便。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种结构简单、使用方便、操作简单,且能批量测量待测产品平面度的检测装置。
为了实现上述目的,本实用新型的技术方案如下:
一种平面度检测装置,包括底板和置于底板上的支架,所述底板上设有旋转台和置于旋转台上的定位块;支架连接有杠杆千分表,杠杆千分表上设有置于定位块上方的探头,可以手工操作旋转台,杠杆千分表精密度高。
进一步地,所述杠杆千分表与支架通过固定块连接。
进一步地,所述支架上连接有Z轴滑块,Z轴滑块与固定块连接。
进一步地,所述Z轴滑块上连接有Z轴调节杆,Z轴调节杆控制Z轴滑块在垂直方向上微调移动。
进一步地,所述底板上设有Y轴滑块和置于Y轴滑块上的X轴滑块,支架置于X轴滑块上。
进一步地,所述Y轴滑块连接有Y轴调节杆,X轴滑块连接有X轴调节杆。
进一步地,所述底板底部设有垫脚。
采用上述技术方案的平面度检测装置,由于所述底板上设有旋转台和置于旋转台上的定位块;支架连接有杠杆千分表,杠杆千分表上设有置于定位块上方的探头,所以待测产品放置于定位块上,旋转台带动产品转动,杠杆千分表上的探头就能方便地测出产品的平面度,精度高。由于所述杠杆千分表与支架通过固定块连接,所以连接可靠性好。由于所述支架上连接有Z轴滑块,Z轴滑块与固定块连接,所以通过Z轴滑块杠杆千分表能实现垂直方向上的滑动。由于所述Z轴滑块上连接有Z轴调节杆,所以可以实现Z轴滑块的微调。由于所述底板上设有Y轴滑块和置于Y轴滑块上的X轴滑块,支架置于X轴滑块上,所以通过X轴滑块与Y轴滑块,杠杆千分表能实现水平方向上的滑动。由于所述Y轴滑块连接有Y轴调节杆,X轴滑块连接有X轴调节杆,所以能实现水平方向上的微调。由于所述底板底部设有垫脚,所以该能起到缓冲的效果,检测装置使用寿命会长。
附图说明
图1为本实用新型平面度检测装置的结构示意图。
具体实施方式
如图1所示,一种平面度检测装置,包括底板2和置于底板2上的支架10,底板2上设有旋转台3和置于旋转台3上的定位块4;支架10连接有杠杆千分表5,杠杆千分表5上设有置于定位块4上方的探头6,可以手工操作旋转台3,杠杆千分表5精密度高,杠杆千分表5与支架10通过固定块7连接,支架10上连接有Z轴滑块8,Z轴滑块8与固定块7连接,Z轴滑块8上连接有Z轴调节杆9,Z轴调节杆9控制Z轴滑块8在垂直方向上微调移动,底板2上设有Y轴滑块13和置于Y轴滑块13上的X轴滑块11,支架10置于X轴滑块11上,Y轴滑块13连接有Y轴调节杆14,X轴滑块11连接有X轴调节杆12,底板2底部设有垫脚1。
本实用新型平面度检测装置,使用时,将待测产品放置在旋转台3上的定位块4中,通过Z轴滑块8、X轴滑块11以及Y轴滑块13能实现杠杆千分表5水平方向以及垂直方向的移动,探头6能探测到待测产品的各个位置,能批量检测待测产品的平面度,尤其是测人工耳蜗钛壳体针盘的平面度,操作简单,方便。
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