[实用新型]一种检测装置有效
申请号: | 201220577648.1 | 申请日: | 2012-11-05 |
公开(公告)号: | CN202916546U | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 门庆国;张文富 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G01N21/88 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 黄灿;安利霞 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 装置 | ||
1.一种检测装置,用于显示基板的检测,包括:
基台;
设置于所述基台内的可升降的支撑结构;其特征在于,
所述支撑结构的支撑所述显示基板的部位的表面为反光的表面。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述支撑结构包括:支撑体,以及与所述支撑体连接的支撑帽;所述支撑帽的上表面为反光的表面。
3.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述支撑帽的表面涂覆有反光材料。
4.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述支撑帽由反光材料制作。
5.根据权利要求3或4所述的检测装置,其特征在于,所述反光材料包括:全反射率大于一预定反射率的反光材料。
6.根据权利要求5所述的检测装置,其特征在于,所述反光材料包括:微发泡MCPET材料。
7.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,
所述基台包括:玻璃基台以及设置于所述玻璃基台底面的反射板;或者
所述基台的底面是反射型的底面。
8.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,还包括:设置于所述基台上方,用于发出光线的光照设备。
9.根据权利要求8所述的检测装置,其特征在于,所述光线的波长在400~700nm之间。
10.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,还包括:设置于所述基台上方,用于接收所述基台反射的反射光线的观察设备。
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