[实用新型]一种消除运放失调电压影响的电路有效
申请号: | 201220587414.5 | 申请日: | 2012-11-09 |
公开(公告)号: | CN203054651U | 公开(公告)日: | 2013-07-10 |
发明(设计)人: | 徐石明 | 申请(专利权)人: | 惠州市蓝微电子有限公司 |
主分类号: | G05F1/56 | 分类号: | G05F1/56 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 任海燕 |
地址: | 516006 广东省惠*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 消除 失调 电压 影响 电路 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种消除运放失调电压影响的电路。
背景技术
如果运放两个输入端上的电压均为0V,则输出端电压也应该等于0V。但事实上,输出端总有一些电压,该电压称为失调电压VOS。从各运放的规格书中查阅此参数,其VOS 一般最大值为7mv,如果此运放运用于过流检测电路,因运放输入失调电压导致的电流误差为VOS /RS (取样电阻),如果RS 阻值为1mΩ,则最大误差电流可达7A,对PCM的过流精度的影响是比较大的,除了运放本身存在VOS 外,随着温度的变化其VOS 也会变化,这种变化称为输入失调温度漂移,同时漂移的大小随时间也会有变化,且漂移是不恒定,非单调变化的,因此需采取措施消除失调电压对过流的影响。
实用新型内容
本实用新型针对上述普遍存在的缺点,提出一种消除运放失调电压影响的电路。
本实用新型采取的设计方案为:
一种消除运放失调电压影响的电路,包括电芯、微控制单元、电池电压检测电路、电流采样电阻、运放电路、mos电路、mos驱动电路;微控制单元通过电池电压检测电路检测电芯输出电压,微控制单元检测运放电路输出电压,微控制单元通过mos驱动电路控制mos电路,电流采样电阻、mos电路、负载串联接电芯两端。
优选的,电芯电压通过稳压模块给微控制单元提供电压
优选的,所述的运放放大电路包括正偏移保持电阻。
综上所述,本实用新型具有以下显著的有益效果:(1)本方案采用增加正偏移保持电阻,提高运放输入电压,使之保持正偏移,以消除运放输入负偏移对输出的影响,通过将输入端电压进行放大,输出端电压也会应增加,并通过MUC读取运放输出电压,以校准偏移及相关噪声产生的误差,以提高PCM的过流检测精度;(2)结构简洁,生产成本低,易于大规模生产。
附图说明
附图1为本实用新型所述一种消除运放失调电压影响的电路的电路图。
具体实施方式
为了让本领域的技术人员更好地理解本实用新型的技术方案,下面结合附图对本实用新型作进一步阐述。
如图1所示,一种消除运放失调电压影响的电路,包括电芯、微控制单元、电池电压检测电路、电流采样电阻、运放电路、mos电路、mos驱动电路;微控制单元通过电池电压检测电路检测电芯输出电压,微控制单元检测运放电路输出电压,微控制单元通过mos驱动电路控制mos电路,电流采样电阻、mos电路、负载串联接电芯两端;电芯电压通过稳压模块给微控制单元提供电压,所述的运放放大电路包括正偏移保持电阻。
电芯、开关K1、负载、mos电路、电流采样电阻Rs串联构成回路。电芯通过稳压模块给微控制单元(MCU)提供电压。MCU的AN1脚通过电池电压检测电路检测电芯电压。mos电路包括第一场效应管、第一二极管,MCU的AN2脚通过MOS驱动电路接第一场效应管的栅极,第一二极管为第一场效应管的内部寄生二极管,漏极接第一二极管负极,源极接第一二极管负极,漏极电位高于源极。运放电路包括运算放大器、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、正偏移保持电阻RL,运算放大器的输出端接MCU的AN3脚,运算放大器的正输入端经过第二电阻接第一场效应管源极,vcc经过正偏移保持电阻RL接运算放大器的正输入端,运算放大器的负输入端经过第三电阻接地,第一电阻分接运算放大器的输出端、运算放大器的负输入端。
工作过程:1、使用电芯通过稳压模块给MCU供电,使MCU处于正常的工作状态;2、按正常的放大电路将R1,R2,R3与运放按示意图相接,Gain=(R1+R3)/R3);3、使用较大的RL电阻,提高运放输入电压,使之保持正偏移,以消除运放输入负偏移对输出的影响;4开关闭合后,MCU先对通过AN1和AN3脚检测电芯电压Vb及初始运放输出电压Vout1,当电压处于正常电压范围时,MCU才通过AN2脚控制MOS驱动电路将第一场效应管打开;5. 第一场效应管接通后,MCU再通过AN3脚检测运放输出电压Vout2,可得知回路电流为,I=(Vout2- Vout1)/Gain/RS;6.每次开关重新启动后都重复4,5步,当开关一直按着,也可随温度变化和时间的推移,重新设定第一场效应管以脉冲形式开关,以使运放输出电压变化,以消除相关噪声对运放输出变化产生的影响,以提高电流检测精度。
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