[实用新型]一种用于MOCVD设备的进料设备有效
申请号: | 201220599293.6 | 申请日: | 2012-11-14 |
公开(公告)号: | CN202954087U | 公开(公告)日: | 2013-05-29 |
发明(设计)人: | 陈文兵;刘典;邓金生;肖四哲;王钢;范冰丰;童存声 | 申请(专利权)人: | 深圳市捷佳伟创新能源装备股份有限公司;佛山市中山大学研究院 |
主分类号: | C23C16/44 | 分类号: | C23C16/44 |
代理公司: | 深圳市康弘知识产权代理有限公司 44247 | 代理人: | 胡朝阳;孙洁敏 |
地址: | 518000 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 mocvd 设备 进料 | ||
技术领域
本实用新型涉及制备制化合物半导体材料的技术,尤其涉及一种用于MOCVD设备的进料设备。
背景技术
MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)设备是当代用于制备化合物半导体材料的最佳工艺装备。由于它在制备各种薄膜晶体材料中具有独到的优势,使新型微波,毫米波器件及先进的微电子、光电子器件的设计和制造由传统的“掺杂工程”发展到了“能带工程”和“电子特性与光学特性裁剪”的新时代,极大地推动了微波、亳米波器件及微电子、光电子器件的飞速发展。正因为如此,全世界电子技术领域都争相应用、开发。
MOCVD的技术价值确实诱人,但其要求也的确非常高精。以最不引人注意的部位为:工艺中使用的金属有机源及相关气源,其纯度均在6N(即99.9999%)以上。综合说这是反应室内,其实反应室外的非工艺状况下,基片盒的开启、基片的取出、放置、传输及工艺片的提取、装盒、取出、传输,其要求也近乎苛刻。主要表现在以下几个方面:①抗尘埃粒子的净化级别要达0.1级以上;因为MOCVD工艺所制备的都是薄层、超薄层低维半导体材料,所以哪怕是在基片或工艺片上落一颗0.1UM这样小的尘埃,都如一座小山压顶,无法容忍;然而我们又不可能将设备所在的净化间做成 0.1级这样高的要求,除了造价十分昂贵外,目前我们的技术水准也难于达到。②抛开尘埃粒子外,空气本身就是污染源。空气中成分复杂,氧和水是比较典型的污染源。例如:GaAs基片在空气中会迅氧化,而这是MOCVD淀积工艺所不允许的。而且一旦发生,该氧化层去除极为困难;Inp基片易快速吸收空气中的水分,要去除也非常麻烦。GaN基片就更娇气,连在装载中其表面偶尔吸附了一点点空气,都要尽力去除。③反应室内的残气也决不允许泄到设备外。因为参与反应的金属烷遇水或燃烧时,将发生爆炸,一旦泄漏造成局部积累,将造成严重后果。对人的危害更大的则是某些氢化物,例如ph3,人体吸入量必须<0.3ppm,AsH3的人体允许吸入量<0.05ppm,若ph3的含量到100ppm或AsH3达6ppm,几小时就使人至死。因此,严格控制这些化合物的外泄,哪怕是极微量的反应残气,都十分重要,细小的疏忽都可能造成灾难性的后果。
目前,国产MOCVD设备涉及的进料结构存在以下不足和缺陷:
1、有的国产设备没有独立的进料结构,直接对反应室进行放片取片的操作,即使后续对反应室处进行了改造,也很难保证洁净度造成交叉污染;
2、有的国产设备即使有进料结构,但密封性能差,净化处理效果不好,将造成交叉污染;
3、进料机构的功能不完备,工业化生产能力欠缺;
4、进料机构的自动化程度不高,尤其是向反应室自动进出片功能。
实用新型内容
本实用新型的目的是针对上述现有技术存在的缺陷,提供一种用于MOCVD
设备的进料设备。
本实用新型采用以下技术方案是,设计一种用于MOCVD设备的进料设备,包括进料筒、操作室和中转室,其中:
所述的进料筒采用卧式柱体,其后端密封,前端设有进料门,侧面通过一出料门与操作室相通,进料筒内设有托物盘;
所述的操作室为一密封的箱体,其正面上半部安装透明的有机玻璃,下半部安装一双与箱体密封,用于操作的长手套,其内安装有可转动的载物盘;
所述的中转室为立式柱体,其与操作室之间设置有用于隔离的闸板阀,在靠操作室一侧的后部,设有载片盘暂存区,所述的中转室内装有机械手,用于从操作室将载片盘送到反应室,或从操作室将载片盘送到所述的载片盘存放区。
在一较佳实施例中,所述的进料筒与一螺旋真空泵和高纯度N2气入口相连接。所述的操作室设有氮气保护装置、真空吸笔、N2气露点仪和N2吹扫器。所述的操作室安装有氮气再生循环系统。所述的操作室内安装有保持操作室正压的压力保护装置。所述的中转室设有高纯度的N2进出口。
与现有技术相比,本实用新型对空气具有以下有益效果:
1、进料设备具有独立、密封性优良的净化系统;
2、进料设备的功能,和自动化程度,满足工业化生产的需要;
3、进料设备进行标准化、通用化配置,满足各种基片的工艺需求。
附图说明
图1为本实用新型的结构主视图;
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C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的