[实用新型]一种电阻测量电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子技术领域，具体涉及一种电阻测量电路。

背景技术

在测量电阻值时，常用的电路如图1所示。图中R1为待测电阻，Vref为参考电压，Rref是参考电阻。通过电压检测电路可以测出电压Vin的值，进而可以推导出电阻R1的值：R1=Rref* Vin /(Vref-Vin)。

当测量多个电阻值时，为节省电路成本，一般会采用多路复用电路。多路复用电路一般采用如图2所示电路，S1在不同时刻连通到不同的测试通道上，就能利用同一个电压检测电路检测出多个电阻的阻值。虽然这种方法不会影响电路测量的精度，但是运用了多个参考电压以及多个参考电阻，使得电路变得庞大，并且结构复杂。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，从而提供了一种结构简单的电阻测量电路。

为解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案：

一种电阻测量电路，包括：N路复用开关、参考电阻Rref、电阻值已知的电阻R0、n个待测电阻R1~Rn，其中n=N-1，n为自然数；参考电压Vref连接至参考电阻Rref的第一端，参考电阻Rref的第二端连接至N路复用开关的控制端，参考电阻Rref的第二端的电压为Vin；N路复用开关的其中一个测试通道通过电阻R0连接至地信号，N路复用开关的(N-1)个测试通道分别通过n个待测电阻连接至地信号。

进一步地，所述N路复用开关的N个测试通道的等效电阻R0’~Rn’分别与对应的电阻R0和n个待测电阻串联。

进一步地，所述N路复用开关的N个测试通道的等效电阻R0’~Rn’阻值相等。

进一步地，所述与电阻R0串联的N路复用开关的一路等效电阻R0’= Rref* Vin /(Vref-Vin)-R0。

进一步地，所述N路复用开关的N个测试通道的等效电阻R0’~Rn’阻值相等，并且Rn’= Rref* Vin /(Vref-Vin)-R0。

进一步地，n个待测电阻的阻值为：Rn= Rref* Vin /(Vref-Vin)-R0’。

进一步地，所述电阻测量电路还包括电压检测电路，所述电压检测电路与参考电阻Rref的第二端连接。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：本实施例公开的电阻测量电阻，N路复用开关的待测电阻公用一个参考电阻，这样的电路结构简单，可以方便测量待测电阻的阻值。

附图说明

图1是现有技术分压法测量电阻值的电路示意图。

图2是现有技术多路复用测量电阻值的示意图。

图3是本发明实施例电阻测量电路原理示意图。

图4是本发明第一实施例电阻测量电路等效示意图。

图5是本发明第二实施例电阻测量电路等效示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

图3是本发明实施例电阻测量电路原理示意图；公开了一种电阻测量电路，包括：N路复用开关S1、参考电阻Rref、电阻值已知的电阻R0、n个待测电阻R1~Rn，其中n=N-1，n为自然数；参考电压Vref连接至参考电阻Rref的第一端，参考电阻Rref的第二端连接至N路复用开关S1的控制端，参考电阻Rref的第二端的电压为Vin；N路复用开关S1的其中一个测试通道通过电阻R0连接至地信号，N路复用开关的(N-1)个测试通道分别通过n个待测电阻连接至地信号。N路复用开关的待测电阻公用一个参考电阻，这样的电路结构简单，可以方便测量待测电阻的阻值。本实施例中，图3中的N=4，当然在其他实施例中N也可以为其他大于等于2的自然数。以下的实施例均是以N=4为例。

由于工艺及材料固有特性的原因，多路复用开关并不是理想的，每一测试通道实际是有一定阻抗的。图4是本发明第一实施例电阻测量电路等效示意图；其中R1’、R2’、R3’分别是每个测试通道的等效阻抗。测试通道阻抗主要受温度影响，一般而言，温度越高，阻抗越高。在图4等效电路中，N路复用开关的N个测试通道的等效电阻R0’~Rn’分别与对应的电阻R0和n个待测电阻串联。