[实用新型]半导体封装点胶治具有效
申请号: | 201220643157.2 | 申请日: | 2012-11-29 |
公开(公告)号: | CN202909890U | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 王骏 | 申请(专利权)人: | 无锡万银半导体科技有限公司 |
主分类号: | B05C5/00 | 分类号: | B05C5/00;H01L21/56 |
代理公司: | 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 | 代理人: | 刘洪京 |
地址: | 214000 江苏省无锡市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装点 胶治具 | ||
技术领域
本实用新型涉及半导体封装技术领域,尤其是一种半导体封装点胶治具。
背景技术
在现有的半导体封装技术中,采用的点胶治具是单溢胶口(PIN)的点胶头用来画胶。由于点胶头中溢胶口很少,导致框架(PMF)内壁胶体不多,并且密封性也不是十分太好,容易出现盖子(CAP)脱落,气体侵入芯片导致不良发生。
实用新型内容
本实用新型针对不足,提出一种半导体封装点胶治具,点胶头的溢胶口较多,使得PMF内壁胶体多,同时密封性好。
为了实现上述实用新型目的,本实用新型提供以下技术方案:一种半导体封装点胶治具,包括依次连接的胶管连接口、胶体储存腔和溢胶口,该溢胶口设有16个。
进一步地,该16个溢胶口均匀设置在胶体储存腔上。
与现有技术相比,本实用新型具有以下优点:采用16个溢胶口,使得点胶阵列更密集,很好的避免CAP脱落和气体侵入芯片不良现象发生,而且封装过程性能更稳定,产品制作过程成品率提高很多;具有结构简单,合理,性能稳定等优点。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图;
图2为图1的右视图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型进行详细描述,本部分的描述仅是示范性和解释性,不应对本实用新型的保护范围有任何的限制作用。
如图1和图2所示的一种半导体封装点胶治具,包括依次连接的胶管连接口1、胶体储存腔2和溢胶口3,该溢胶口3设有16个。该16个溢胶口3均匀设置在胶体储存腔2上。
本点胶头产品的溢胶口3在设计时,考虑了封装过程发生CAP脱落不良和气体侵入芯片不良现象设计点胶治具PIN针改善,很好的避免CAP脱落和气体侵入芯片不良现象发生。
本实用新型的目的给出了对本实用新型优选实施例的描述,可以使本领域的技术人员更全面地理解本实用新型,但不以任何方式限制本实用新型,而且任何可以对本实用新型进行修改或者等同替换,均应涵盖在本实用新型专利的保护范围内。
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