[实用新型]一种晶圆取芯片的工装有效
申请号: | 201220646559.8 | 申请日: | 2012-11-30 |
公开(公告)号: | CN203026492U | 公开(公告)日: | 2013-06-26 |
发明(设计)人: | 孙广;朱宗恒 | 申请(专利权)人: | 芜湖通和汽车管路系统有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/683 |
代理公司: | 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 | 代理人: | 马荣 |
地址: | 241009 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 晶圆取 芯片 工装 | ||
技术领域
本实用新型属于一种工装,更为具体的说,本实用新型涉及一种晶圆取芯片的工装。
背景技术
目前,国内涉及到裸芯片使用的电子公司或专业的芯片绑定公司,采购晶圆后一般安排工人手工取芯片,工人用夹具将晶圆支架固定,用手指或者工具从晶圆薄膜背面将芯片顶起,用自动吸笔吸走芯片,或用缠着双面胶的牙签粘走芯片,这是目前国内大多数电子厂和绑定企业的作法。大的专业绑定企业或者外企,一般使用专用的取芯片机器,但是这种设备较为昂贵,而且芯片大小的不同,芯片和薄膜的粘着力不同,晶圆盘大小的不同需要使用不同型号的设备或夹具,通用性行较差。
国内目前的问题是:①手工操作取芯片的效率低;②手工操作芯片之间可能会相互碰撞损坏芯片,导致损耗较高;③专用设备价格昂贵,难以在小企业推广,而且专用设备或夹具对不同型号的芯片通用性较差。
实用新型内容
本实用新型所要解决的问题是,针对现有技术的不足,提供一种结构简单、成本较低且提高工作效率的晶圆取芯片的工装。
为了实现上述目的,本实用新型采取的技术方案为:
本实用新型所提供的这种晶圆取芯片的工装,包括支撑圆板、顶柱和固定连接在支撑圆板上的支撑圆环,在所述的支撑圆环上套装盖板,所述的支撑圆板和盖板卡接在支撑架上。
在所述的支撑架上设有螺栓,在所述的螺栓上设有调节螺母。
所述的支撑架为三个,两两之间的夹角为120度 。
采用上述技术方案,结构简单,将晶圆盘放在支撑圆环上,用盖板压住晶圆支架,支撑圆板和盖板卡接在支撑架上,调节螺栓上的调节螺母,用顶柱顶起晶圆薄膜的背面,使得芯片脱离晶圆薄膜,然后用真空吸笔吸住芯片就可以取走芯片,提高了工作效率,也降低了成本,同时针对不同大小的晶圆盘只需要更换不同规格的支撑圆板和支撑圆环就可以取走芯片,通用性很强。
附图说明
下面对本说明书各幅附图所表达的内容及图中的标记作简要说明:
图1为本实用新型的结构示意图;
图2为晶圆盘的结构示意图。
图中标记为:
1、支撑架,2、支撑圆板,3、晶圆盘,4、支撑圆环,5、盖板,6、顶柱,7、晶圆支架,8、晶圆薄膜,9、芯片,10、螺栓,11、调节螺母。
具体实施方式
如图1至图2所示,本实用新型所提供的这种晶圆取芯片的工装,包括支撑圆板2、顶柱6和固定连接在支撑圆板2上的支撑圆环4,在支撑圆环4上套装盖板5,支撑圆板2和盖板5卡接在支撑架1上。
采用上述技术方案,这种晶圆取芯片的工装,结构简单,使用过程中,将晶圆盘3正中放置在支撑圆板2上,确保支撑圆环4在晶圆盘3的空白薄膜环的中间以外,这样可以避免薄膜扩张时,芯片9过于靠近支撑圆板2而不便于操作,然后用盖板5压住晶圆支架7,用支撑架1卡住支撑圆板2和盖板5,调节支撑架1上调节螺母11,调节盖板5和支撑圆板2之间的松紧,确定最佳的 晶圆薄膜8的扩张度,用顶柱6顶起晶圆薄膜8的背面,使得芯片9脱离晶圆薄膜8,用真空吸笔吸住芯片9中心位置,就可以方便的取走芯片9,操作简单,相比用手工取走芯片9来说提高了工作效率,这种工装制造方便,取材容易,因此也降低了成本,针对不同规格的晶圆盘3,只需要更换不同规格的支撑圆板2和支撑圆环4就可以取走芯片9,通用性很强。
如图1至图2所示,在支撑架1上设有螺栓10,在螺栓10上设有调节螺母11。
采用上述技术方案,在支撑架1上设有螺栓10,在螺栓10上设有调节螺母11,根据芯片9的间距要求,可以方便调节盖板5和支撑圆板2之间的松紧,确定最佳的晶圆薄膜8的扩张度。
如图1至图2所示,支撑架1为三个,两两之间的夹角为120度 。
采用上述技术方案,支撑架1为三个,两两之间的夹角为120度,这样可以保证晶圆盘3上的薄膜受力均匀,薄膜扩张一致。
上面结合附图对本实用新型进行了示例性描述,显然本实用新型具体实现并不受上述方式的限制,只要采用了本实用新型的方法构思和技术方案进行的各种非实质性的改进,或未经改进将本实用新型的构思和技术方案直接应用于其它场合的,均在本实用新型的保护范围之内。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造