[实用新型]一种薄膜太阳能电池及制成它的p型半导体有效

专利信息
申请号: 201220659582.0 申请日: 2012-12-05
公开(公告)号: CN202977439U 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 高平奇;孔英;王宽冒;黄艳红;云骁健 申请(专利权)人: 保定风帆光伏能源有限公司
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352;H01L31/0376;H01L31/0384;H01L31/075;H01L31/076
代理公司: 保定市燕赵恒通知识产权代理事务所 13121 代理人: 杨玉清
地址: 071051 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 薄膜 太阳能电池 制成 半导体
【权利要求书】:

1.一种薄膜太阳能电池,其结构为单结结构:基板/前电极/p型半导体/i层本征吸收层/n层半导体薄膜/背电极;其特征在于:所述的p型半导体由p+层半导体薄膜和p-层半导体薄膜构成,其中p+层半导体薄膜、p-层半导体薄膜为具有不同光电特性的同一种材料制成, 

对于非晶硅电池,p+层半导体薄膜和p-层半导体薄膜均为非晶碳化硅a-SiC:H薄膜,p+层半导体薄膜的暗电导为1×10-5~5×10-5S/cm,能带隙为1.8~1.9 eV, 厚度为40~80 ?;p-层半导体薄膜的暗电导为1×10-7~5×10-7 S/cm,能带隙为2 ~2.1 eV,厚度为30~100 ?;

对于微晶硅电池,p+层半导体薄膜和p-层半导体薄膜均为微晶硅μ-Si:H薄膜,p+层半导体薄膜的暗电导为1×10-3~1×10-2S/cm,能带隙为1.1~1.2 eV, 厚度为40~80 ?;p-层半导体薄膜的暗电导为1×10-5~1×10-4 S/cm,能带隙为1.3 ~1.5 eV,厚度为30~100 ?。

2.一种薄膜太阳能电池,其结构为双结结构:基板/前电极/ p型半导体/i层本征吸收层/n层半导体薄膜/p型半导体/i层本征吸收层/n层半导体薄膜/背电极;其特征在于:所述的p型半导体由p+层半导体薄膜和p-层半导体薄膜构成,其中p+层半导体薄膜、p-层半导体薄膜为具有不同光电特性的同一种材料制成;

对于非晶硅电池,p+层半导体薄膜和p-层半导体薄膜均为非晶碳化硅a-SiC:H薄膜,p+层半导体薄膜的暗电导为1×10-5~5×10-5S/cm,能带隙为1.8~1.9 eV, 厚度为40~80 ?;p-层半导体薄膜的暗电导为1×10-7~5×10-7 S/cm,能带隙为2 ~2.1 eV,厚度为30~100 ?;

对于微晶硅电池,p+层半导体薄膜和p-层半导体薄膜均为微晶硅μ-Si:H薄膜,p+层半导体薄膜的暗电导为1×10-3~1×10-2S/cm,能带隙为1.1~1.2 eV, 厚度为40~80 ?;p-层半导体薄膜的暗电导为1×10-5~1×10-4 S/cm,能带隙为1.3 ~1.5 eV,厚度为30~100 ?。

3.一种薄膜太阳能电池,其结构为三结以及三结以上的多结结构:基板/前电极/ p型半导体/i层本征吸收层/n层半导体薄膜/ p型半导体/i层本征吸收层/n层半导体薄膜/ p型半导体/i层本征吸收层/n层半导体薄膜/…/背电极;其特征在于:所述的p型半导体由p+层半导体薄膜和p-层半导体薄膜构成,其中p+层半导体薄膜、p-层半导体薄膜为具有不同光电特性的同一种材料制成, 

对于非晶硅电池,p+层半导体薄膜和p-层半导体薄膜均为非晶碳化硅a-SiC:H薄膜,p+层半导体薄膜的暗电导为1×10-5~5×10-5S/cm,能带隙为1.8~1.9 eV, 厚度为40~80 ?;p-层半导体薄膜的暗电导为1×10-7~5×10-7 S/cm,能带隙为2 ~2.1 eV,厚度为30~100 ?;

对于微晶硅电池,p+层半导体薄膜和p-层半导体薄膜均为微晶硅μ-Si:H薄膜,p+层半导体薄膜的暗电导为1×10-3~1×10-2S/cm,能带隙为1.1~1.2 eV, 厚度为40~80 ?;p-层半导体薄膜的暗电导为1×10-5~1×10-4 S/cm,能带隙为1.3 ~1.5 eV,厚度为30~100 ?。

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