[实用新型]单晶硅太阳能电池有效
申请号: | 201220680034.6 | 申请日: | 2012-12-06 |
公开(公告)号: | CN203055965U | 公开(公告)日: | 2013-07-10 |
发明(设计)人: | 杨瑞鹏;连春元;于奎龙;沈伟妙;丁鹏;赵燕萍 | 申请(专利权)人: | 杭州赛昂电力有限公司 |
主分类号: | H01L31/078 | 分类号: | H01L31/078;H01L31/036 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 311215 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 单晶硅 太阳能电池 | ||
1.一种单晶硅太阳能电池,其特征在于,包括:
基片,所述基片为第一类型单晶片;
位于所述基片的上表面的SiGe虚拟衬底;
位于所述SiGe虚拟衬底表面的第二类型掺杂层;
位于所述第二类型掺杂层表面的抗反射层;
位于所述抗反射层表面的第一电极;
位于所述基片下表面的第二电极。
2.根据权利要求1所述的单晶硅太阳能电池,其特征在于,所述基片为N型单晶硅片,则所述第二类型掺杂层为P型层。
3.根据权利要求1所述的单晶硅太阳能电池,其特征在于,或者所述基片为P型单晶硅片,则所述第二类型掺杂层为N型层。
4.根据权利要求1所述的单晶硅太阳能电池,其特征在于,所述SiGe虚拟衬底包括基片表面的Ge含量随厚度逐渐增加的Si1-xGex缓冲层和位于Si1-xGex缓冲层表面的Ge含量稳定的弛豫Si1-xGex层。
5.根据权利要求1所述的单晶硅太阳能电池,其特征在于,还包括位于SiGe虚拟衬底和第二类型掺杂层之间的本征层。
6.根据权利要求5所述的单晶硅太阳能电池,其特征在于,所述本征层厚度范围为
7.根据权利要求1所述的单晶硅太阳能电池,其特征在于,所述第二类型掺杂层的厚度范围为
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的