[实用新型]太阳能硅片及电池片缺陷检测系统有效
申请号: | 201220689156.1 | 申请日: | 2012-12-13 |
公开(公告)号: | CN203055872U | 公开(公告)日: | 2013-07-10 |
发明(设计)人: | 王利顺;陈利平;裴世铀;李波 | 申请(专利权)人: | 苏州中导光电设备有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 昆山四方专利事务所 32212 | 代理人: | 盛建德 |
地址: | 215311 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 太阳能 硅片 电池 缺陷 检测 系统 | ||
1.一种太阳能硅片及电池片缺陷检测系统,其特征是:包括机架、样品放置平台、处理器(12)、少子寿命检测模块(1)、图像采集系统(4)和激光照明系统(5),所述少子寿命检测模块(1)、图像采集系统(4)和激光照明系统(5)分别固设于机架上,样品放置平台包括固定于机架上的导轨(3)和能够沿导轨(3)滑动的光致荧光检测平台(2)及电致荧光检测平台(7),所述光致荧光检测平台(2)上设有少子寿命探测器(10),该少子寿命探测器(10)传信于处理器(12),所述电致荧光检测平台(7)上设有能够给样品(11)施加直流电源的加电装置(16),且该加电装置(16)、样品(11)和电致荧光检测平台(7)能够形成一个导电回路,少子寿命检测模块(1)能够朝位于设定位置的光致荧光检测平台(2)上的样品(11)发射闪光,激光照明系统(5)能够朝光致荧光检测平台(2)和电致荧光检测平台(7)之一上的样品(11)发射激光,图像采集系统(4)能够采集处于设定位置的样品(11)发出的荧光图像并传信给处理器(12)进行分析和处理。
2.如权利要求1所述的太阳能硅片及电池片缺陷检测系统,其特征是:所述光致荧光检测平台(2)和电致荧光检测平台(7)采用联动定位的机械结构。
3.如权利要求2所述的太阳能硅片及电池片缺陷检测系统,其特征是:所述导轨(3)上设有可调节限位环(9),该可调节限位环(9)与光致荧光检测平台(2)和电致荧光检测平台(7)能够拆卸固定连接,并将光致荧光检测平台(2)和电致荧光检测平台(7)之一固定于设定位置。
4.如权利要求1所述的太阳能硅片及电池片缺陷检测系统,其特征是:所述电致荧光检测平台(7)与真空发生器连接,真空发生器能够使电致荧光检测平台(7)与样品(11)之间产生真空。
5.如权利要求1所述的太阳能硅片及电池片缺陷检测系统,其特征是:所述电致荧光检测平台(7)上的加电装置(16)为三条探针条,该三条探针能够与样品(11)紧密接触。
6.如权利要求5所述的太阳能硅片及电池片缺陷检测系统,其特征是:还设有探针架(6),三条探针能够拆卸固定于探针架(6)上,探针架(6)与电致荧光检测平台(7)铰接连接,还设有一锁紧机构(8),该锁紧机构(8)能够将盖板与电致荧光检测平台(7)锁紧固定。
7.如权利要求6所述的太阳能硅片及电池片缺陷检测系统,其特征是:还设有气压弹簧,气压弹簧的两端分别与电致荧光检测平台(7)和探针架(6)侧壁固定连接。
8.如权利要求1所述的太阳能硅片及电池片缺陷检测系统,其特征是:所述激光照明系统(5)包括控制激光器(14)和激光照明镜头,所述控制激光器(14)能够接收处理器(12)命令发射激光给激光照明镜头,激光照明镜头内依次设有光束整形光管、聚焦镜头和光斑调整装置。
9.如权利要求1所述的太阳能硅片及电池片缺陷检测系统,其特征是:所述图像采集系统(4)为CCD相机。
10.如权利要求1所述的太阳能硅片及电池片缺陷检测系统,其特征是:所述加电装置(16)施加的直流电源为二象限可编程直流电源。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造