[实用新型]接触式半自动IC卡检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及检测装置，特别涉及一种接触式半自动IC卡检测装置。 

背景技术

在现有的智能IC卡检验活动中，一般使用IC卡读写机设备进行检测。因此，在整个检验过程中由于人员手工操作，在插拔卡片的同时读写机的进卡口、读写机内读写触点等尖锐及金属部分都会对卡片及芯片表面存在一定的伤害，而这类伤害在客户看来，也属于无法接受的产品问题。另外，由于是手工使用读写机进行读写操作，长期进行插拔卡片的动作会导致读写触点磨损，而影响检测的准确度，进而影响产品的质量。 

为了避免IC卡检验过程中的卡片及芯片表面的划伤问题。现有技术中一般采用在卡片印刷后对卡片进行增加一层保护膜的工序，降低卡片在生产检测环节造成的卡体划伤。然而，这种增加保护膜的做法弊端是，不仅增加了产品的成本，而且覆膜工序仅针对的是卡片本身的保护，无法做到对芯片的保护。 

另一方面，对于检测用的读写机，在进行万次插拔动作后，就会因为设备磨损导致设备报废，也无形中增加了生产成本。另外卡片的保护膜在产品出厂前必须要揭下来，这样也增加了产品的人工成本。 

实用新型内容

有鉴于此，为克服现有技术的不足，本实用新型提供一种可避免IC卡芯片表面划伤的接触式半自动IC卡检测装置。 

一种接触式半自动IC卡检测装置，包括检测台、用于对所述检测台上的待检测卡片进行测试的检测组件、与待检测卡片形成接触的探针检测组件及控制所述探针检测装置与待检测卡片接触或分离的电磁制动组件。所述探针检测组件与所述检测组件连接，所述电磁制动组件与所述探针检测组件进行连接。所述电磁制动组件通过电磁力控制所述探针检测组件在与待检测卡片垂直的方向上与待检测卡片接触或分离。 

优选地，所述检测台一旁设置有由待检测卡片触发的行程开关，所述行程开关与所述电磁制动组件相连控制所述电磁制动组件驱动所述探针检测组件在与待检测卡片垂直的方向上与待检测卡片接触或分离。 

优选地，所述检测台上开设有放置待检测卡片的IC卡容槽，所述行程开关设置在所述IC卡容槽的后方。 

优选地，所述探针检测组件包括检测探针及探针限位条，所述探针限位条设置在所述检测探针旁，所述探针限位条的下端略高于所述检测探针的末端以防止所述检测探针对待检测卡片的撞击。 

优选地，所述探针检测组件包括探针垫块及探针安装板，所述探针垫块设置在所述检测探针与所述探针安装板之间。 

优选地，所述电磁制动组件包括电磁铁固定板、电磁铁垫块及电磁铁，所述电磁铁固定板往上顺次安装所述电磁铁垫块及电磁铁。 

优选地，所述接触式半自动IC卡检测装置包括设置在所述检测台后方的背板，所述电磁铁固定板固定在所述背板上，所述电磁铁固定板往下顺次安装有所述探针安装板、探针垫块及检测探针。 

优选地，所述检测探针位于所述检测台的上方，所述检测探针采用5针探针。 

优选地，所述电磁铁为ZYE1-1264的直流电磁铁，所述电磁铁在垂直于待检测卡片方向上的移动距离为10mm。 

优选地，所述检测组件为电脑。 

本实用新型的接触式半自动IC卡检测装置采用电磁制动组件驱动接触式探针检测组件进行垂直于IC卡芯片的上下运动，解决了传统读写机触点与芯片的横向滑动接触造成划痕，也无需在印刷后另外增加保护膜的工序。 

附图说明

图1为本实用新型的优选实施例接触式半自动IC卡检测装置的结构示意图。 

具体实施方式

为更好地理解本实用新型，以下将结合附图和具体实例对本实用新型进行详细的说明。 

基于克服以上所述现有的检测装置的种种弊端的目的，本实用新型提供一种接触式半自动IC卡检测装置，以解决检测装置对卡片、芯片的划伤以及由于读写机频繁使用而导致手工操作时卡片放置不到位所造成的检测失误的技术问题。 

本实用新型的优选实施例接触式半自动IC卡检测装置包括检测组件、探针检测组件及电磁制动组件。检测组件主要用于对待检测卡片进行测试。探针检测组件与检测组件连接，主要用于与待检测卡片形成接触，使检测组件能够进行检测。电磁制动组件与探针检测组件进行连接，通过电磁力控制探针检测组件与待检测卡片接触或分离。 

请结合参阅图1，接触式半自动IC卡检测组件，检测台1、IC卡容槽2、背板3、电磁铁固定板4、探针安装板5、探针垫块6、检测探针7、电磁铁垫块8、电磁铁9及行程开关10。