[实用新型]激光二极管触发的光导开关导通性能测试装置

权利要求书

1.一种激光二极管触发的光导开关导通性能测试装置，其特征在于由高压偏置源（1）、激光二极管驱动（2）、同步控制系统（3）、光导开关检测电路（4）和光导开关检测平台（5）组成，其中：

所述的高压偏置源（1）采用Marx电路拓扑结构，充电电源为直流源；

所述的激光二极管驱动（2）采用雪崩管电路实现，即激光二极管驱动采用电容经过雪崩管快速对激光二极管放电的方式产生快的驱动电流得到快的光脉冲；

所述的同步控制系统（3）由高压驱动信号（12）、FPGA控制核心（11）和驱动控制信号（13）依次连接组成，由FPGA控制核心（11）控制高压驱动信号（12）和驱动控制信号（13）的同步输出；

所述光导开关检测电路（4）由储能传输线（6）、光导开关（7）、测量连接传输线（8）、衰减器（9）和示波器（10）依次连接组成；

所述光导开关检测平台（5）置于光学平台底板（14）上，光导开关检测平台（5）由光学平移台（15）、固定支架（16）、激光二极管驱动（2），以及置于塑料盒（20）中的光导开关（7）、印刷电路板（18）、固定支柱（19）和变压器绝缘油（21）组成；由光学平移台（15）、固定支架（16）、激光二极管驱动（2）通过铜柱（17）固定。

2.根据权利要求1所述的激光二极管触发的光导开关导通性能测试装置，其特征在于所述的高压控制信号（12）和驱动控制信号（13）分别控制高压偏置源（1）和激光二极管驱动（2）的同步输出。

3.根据权利要求1所述的激光二极管触发的光导开关导通性能测试装置，其特征在于所述的激光二极管驱动（2）通过光学平移台（15）调整与光导开关（7）的相对位置。

4.根据权利要求1所述的激光二极管触发的光导开关导通性能测试装置，其特征在于所述的储能传输线（6）和测量连接传输线（8）直接焊接在光导开关（7）上。

5.根据权利要求1所述的激光二极管触发的光导开关导通性能测试装置，其特征在于所述的高压偏置源（1）和储能传输线（6），以及测量连接传输线（8）和衰减器（9）之间的连接接头采用高压高频连接头。