[实用新型]一种基板的信号线检测装置及显示器件

说明书

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，尤其涉及一种基板的信号线检测装置及显示器件。 

背景技术

阵列（Array）基板是在玻璃基板上沉积薄膜晶体管（TFT）像素阵列电路形成的。阵列检测设备（Array Tester，简称AT设备）对阵列基板进行检测。 

AT设备在对阵列基板进行检测，先对阵列基板上的信号线进行短路（Short）检测（ESS Test），如果发现阵列基板上的信号线短路，会调用特殊的信号继续进行检测，以提高设备测试的准确性与检出能力。完成ESS Test后，再对TFT像素进行检测。 

但现有技术中，没有针对数据线断路的测试，导致测试的准确性和检出能力较低。 

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种基板的信号线检测装置及显示器件，以解决测试的准确性和检出能力较低的问题。 

本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的： 

一种基板的信号线检测装置，包括： 

用于输出测试信号的测试信号输出端，用于检测测试信号的测试信号检测端，和三极管开关元件组； 

所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的源极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输 出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；或者， 

所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的源极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接。 

如果所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的源极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；较佳的，通过一个三极管开关元件的栅极与相邻的另一个三极管开关元件的漏极连接，实现所述三极管开关元件组中各个三极管开关元件的串接。 

对于串接的三极管开关元件，较佳的，有至少两个所述三极管开关元件组，每组三极管开关元件的源极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的栅极引出端的栅极分别与一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端的漏极分别与一个测试信号检测端连接；或者， 

有至少两个所述三极管开关元件组，每组三极管开关元件的源极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的栅极引出端均与同一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。 

如果所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的源极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；较佳的，通过一个三极管开关元件的源极与相邻的另一个三极管开关元件的漏极连接，实现所述三极管开关元件组中各个三极管开关元件的串接。 

对于串接的三极管开关元件，较佳的，有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的栅极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的源极引出端分别与一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端分别与一个测试信号检测端连接；或者， 

有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的栅极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的源极引出端均与同一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。 

如果所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的源极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；较佳的，所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极作为所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的漏极作为所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接。即三极管开关元件组中的各个三极管开关元件并接。 

对于并接的三极管开关元件，较佳的，有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的源极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的栅极引出端分别与一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端分别与一个测试信号检测端连接；或者，