[实用新型]基于图像处理的植物叶片厚度测量装置有效

专利信息
申请号: 201220723025.0 申请日: 2012-12-25
公开(公告)号: CN203163698U 公开(公告)日: 2013-08-28
发明(设计)人: 马飞;程荣花;鲁书喜;褚龙现;熊蜀锋;马丽;史玉珍;吕琼帅 申请(专利权)人: 平顶山学院
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 郑州中原专利事务所有限公司 41109 代理人: 霍彦伟
地址: 467000 河南省平顶山市*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 基于 图像 处理 植物 叶片 厚度 测量 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型属于植物叶片厚度测量装置,具体地说涉及一种通过图像处理技术实现叶片厚度的测量装置。 

背景技术

   植物叶片厚度对水分变化最为敏感,所以植物叶片的厚度变化可以更好地反映植物体内水分的状况。因此,需要一种快速高效精确的植物叶片厚度测量方法,为农业科研人员进行科学研究提供了参数测量记录的方便。目前测量植物叶片厚度的方法主要有以下几种: 

(l)卡尺测量法:

把待测叶片放置在装置的叶片夹处,使用卡尺或者使用螺旋测微器(千分尺)挤压叶片,在刻度盘处,通过指针指示的数值进行直接读数,便得到叶片厚度。本方法受限于机械操作,存在一定的误差,且效率较低。

(2) 切片测量法: 

将待测叶片做成切片放在显微镜下,用测微尺测量其厚度。此方法精度较高,但效率较低,且设备依赖性较强。

(3)比叶重计算法: 

比叶重(Specific Leaf Weight, SLW)是指单位叶面积的叶片重量(干重或鲜重)。测量过程相对繁琐,周期较长。

(4) 电路传感器测量: 

把待测植物叶片厚度变化当成微位移量变化来测量,就可转化为传统非电量进行检测。当铁磁线圈的位置变化引起磁场的变化,通过测量磁场变化达到测量位移的目的。常选用测量力相对较小的线性差动电感器测量,以提高精度。本方法后期设备维护不方便。

发明内容

本实用新型的目的在于克服上述不足提供一种基于图像处理的植物叶片厚度测量装置,能够高效、准确的测量叶片厚度。      

为实现上述目的,本实用新型采用以下技术方案:

一种基于图像处理的植物叶片厚度测量装置,包括叶片固定装置和设置在叶片固定装置正上方的图像采集装置,叶片固定装置设置在下支撑面板上,上支撑面板通过支架设置在下支撑面板上,图像采集装置设置在叶片固定装置正上方的上支撑面板上,所述叶片固定装置包括设置在下支撑面板上的两个正方体挤压体,在两个正方体挤压体上均设置有与正方体挤压体颜色有明显对比颜色的单位面积正方形参照体,两个单位面积正方形参照体是以两个正方体挤压体之间的缝隙为对称轴对称设置在两个正方体挤压体上,两个正方体挤压体由弹性套圈套紧。

上述的基于图像处理的植物叶片厚度测量装置,所述图像采集装置包括设置在两个正方体挤压体的缝隙正上方的上支撑面板上的摄像装置。 

上述基于图像处理的植物叶片厚度测量装置,在两个正方体挤压体外侧的下支撑面板上均设置有垂直刻度线。 

上述基于图像处理的植物叶片厚度测量装置,所述正方体挤压体是纯白色正方体挤压体,单位面积正方形参照体是纯黑色单位面积正方形参照体。 

上述基于图像处理的植物叶片厚度测量装置,所述支架是四根均匀分布在下支撑面板四个角上的支撑杆构成,支撑杆与下支撑面板之间的夹角是锐角,上支撑面板设置在四个支撑杆的顶部。 

采用上述技术方案,本实用新型有以下优点:本实用新型结构简单,操作容易,能够快速、准确地测量待测叶片的厚度。装置的四个支架为独立的支撑杆,起到固定图像获取设备到待测样本间的距离的作用,同时保证了光线的通过;在每个正方体挤压物的表面各放置一个单位面积正方形参照物,使用双参照物保证了后期测量统计的精度;控制系统的图像处理技术提高了测量的效率和精度。在统计叶片切片宽度时采用左右边缘点横坐标之差的方法,在一定程度上避免了叶切片内部不为绿色而影响绿色像素点计数的误差,提高了测量的精度。使用本实用新型能够快速高效精确的测量植物叶片的厚度,为农业科研人员进行科学研究提供了参数测量记录的有效的手段。 

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。 

图2是本实用新型下支撑面板的俯视图。 

具体实施方式

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