[实用新型]一种光束检测仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种光束检测仪，用于激光加工领域。

背景技术

在光机设备装调过程中经常需要检测光束的位置及光束截面的形状，而目前采用的检测方式是通过一平面反射镜将光束所成的像反射至CCD模块，如图1所示。光束1经过45度反射镜反射后，经过聚焦镜头4，入射到CCD芯片，CCD检测模块3将CCD芯片输出的信号转换为数字信号后输入到数据处理器10做进一步分析运算，并将计算的结果和采集的图像信息显示到显示器9上。

这个检测方式直接将光斑成像，虽然检测速度较快，但是光斑成像不清晰，检测精度较低。

实用新型内容

本实用新型针对上述问题，提出一种利用半透半反镜片成像的光束检测仪。具体如下：

包括：CCD模块、聚焦镜头，沿光线传播方向依次设置半透半反镜片、光屏，半透半反镜片的平面与光线呈45度放置，光屏的平面与光束垂直，其一端与半透半反镜片的一端相接；光线透过半透半反镜片照射到光屏上，经过光屏的反射后，再经过半透半反镜片反射，由聚焦镜头将光线会聚到CCD模块上。

进一步地，光屏上带有分划刻度。

进一步地，CCD模块内部具有与CCD芯片，光线会聚到CCD芯片上。

进一步地，CCD模块上具有一CCD输出接口。

进一步地，还包括数据线、数据处理器、显示器；CCD输出接口将CCD模块中的光线信号经过数据线，输出至数据处理器运算，运算的结果和采集的图像信息显示到显示器上。

本实用新型的有益效果是：

本实用新型提出的利用半透半反镜片的检测仪提高了成像清晰度，提高检测精度。

附图说明

图1是现有技术中的光束检测仪结构示意图。

图2是本实用新型的光束检测仪结构示意图。

图3是本实用新型的光束检测仪中光屏8的俯视图。

具体实施方式

如图2所示，该光束检测仪0包括：半透半反镜片2、CCD模块3、聚焦镜头4、光屏8。CCD模块3中具有一CCD芯片。半透半反镜片2的平面与光线方向呈45度夹角，光线1透过半透半反镜片2照射到光屏8上，经过光屏8的反射后，光线5经过半透半反镜片2反射，由聚焦镜头4将光线会聚到CCD芯片7上。

光屏8是一个带有分划刻度13的漫反射板（如图3所示，12是光斑），反射到CCD芯片7上的光线中携带了分划刻度和光束两部分的信息，该信息经过CCD模块3内部运算后经由CCD输出接口6和数据线11进入数据处理器10做进一步分析运算，并将计算的结果和采集的图像信息显示到显示器9上。

由于在光屏8上带有分划刻度，可以不经过处理器的运算计算即可人工判断光束的位置信息。