[实用新型]一种相序检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电气保护领域的一种相序检测装置。

背景技术

在相电源发生故障造成缺相或使用时相序有误时，三相用电设备的正常工作一般都会受到影响，严重时会造成设备故障甚至损坏。

基于上述原因，对于电源缺相或者相序错误，用电设备一般都有一些监控和防范措施，对三相电源监控的主要内容包括两个部分，一是开机时对将要进入负载的三相电源的相序进行测试，二是在负载工作过程中对三相电源的各相进行全程缺相监控。然而这些措施通常比较简单，在电源发生故障时响应迟缓，加之检测元件检测的结果不够准确，调整精度较低，操作不够方便，其保护效果不够理想。三相电源发生故障后无故障指示，检修也不很方便。此外，普通保护电路无法对相序是否正确做出指示或自动完成相序的改变。对于有固定相序的负载，为了确定相序，通常先要将三相电源接入负载，然后观察电机的转向以确定相序的正负或者用多踪示波器确定相序，但这些方法都较麻烦或不太安全，有的还需专用设备，很不适合一些频繁变换使用地点的仪器设备。

早期的相序检测装置由电容、电阻组成，用指示灯指示缺相。这样的相序检测装置虽然结构简单，由于这种相序检测装置需要电容值较大电容的，增大了其功耗和体积，指示灯灯的亮度还需人工判别，无法实现自动检测。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了克服现有技术的不足，提供一种相序检测装置，它功耗和体积小，相序检测速率和精度高。

实现上述目的的一种技术方案是：一种相序检测装置，包括三个降压电阻、三个发光二极管、三个光耦、六斯密特触发器、单片机和继电器，所述的三个降压电阻对应连接所述的三个发光二极管的输入端，所述的三个发光二极管的输出端对应连接所述的三个光耦的正极，所述的三个光耦的发射极同时连接上拉电源U_d，所述的三个光耦的集电极对应连接所述六斯密特触发器的三个输入端，所述六斯密特触发器的三个输出端对应连接所述单片机的三个数据输入端，所述单片机的时钟输入端接收时钟脉冲信号，所述单片机的输出端连接所述继电器。

进一步的，所述的三个光耦的负极和集电极分别设有接地保护装置。

进一步的，所述的三个光耦的负极同时连接PEN线，所述的三个光耦的集电极分别连接一个接地电阻。

进一步的，所述的三个降压电阻都是有两个电阻R并联而成的。

进一步的，所述的三个发光二极管的触发电压为5V，所述上拉电源U_d提供的上拉电压也为5V。

进一步的，所述的三个光耦为TLP124型光耦。

进一步的，所述的继电器相序继电器。

采用了本实用新型的一种相序检测装置的技术方案，即在三相电源和继电器之间设置三个降压电阻、三个发光二极管、三个光耦、六斯密特触发器、单片机，从而组成相序检测装置的技术方案。其技术效果是：该相序检测装置制造成本和功耗低，体积小，检测速率和检测精度高，并具备故障指示和保护功能。

附图说明

图1为本实用新型的一种相序检测装置的结构示意图。

图2为实用新型的一种相序检测装置的继电器面板示意图。

具体实施方式

请参阅图1和图2，本实用新型的发明人为了能更好地对本实用新型的技术方案进行理解，下面通过具体地实施例，并结合附图进行详细地说明：

请参阅图1和图2，本实用新型的一种相序检测装置包括从三相电源上分别引出的第一降压电阻11、第二降压电阻21和第三降压电阻31，第一发光二极管12、第二发光二极管22、第三发光二极管32、第一光耦13、第二光耦23、第三光耦33、六斯密特触发器4、单片机5和继电器6。

本实施例中使用的单片机5为美国Microchip的PIC12C508型单片机。本实施例中使用的第一光耦13、第二光耦23和第三光耦33为日本东芝公司生产的TLP124型光耦。本实施例中使用的继电器6为上海半宇机电设备有限公司生产的TVR2000-1型相序继电器或者TVR2000Z(C)-1型相序继电器。六斯密特触发器4为深圳泽泰科技有限公司生产的CD40106六斯密特触发器。

其中第一降压电阻11、第二降压电阻21、第三降压电阻31、第一发光二极管12、第二发光二极管22、第三发光二极管32构成该相序检测装置的输入端。六斯密特触发器4、单片机5和继电器6构成该相序检测装置的输出端。第一光耦13、第二光耦23、第三光耦33隔离该相序检测装置的输入端和输出端，以防止该相序检测装置的输入端和输出端之间发生信号干扰。