[实用新型]一种非焊接在路检测贴片RAM的系统

说明书

一、技术领域

本实用新型为在集成电路检测领域所涉及到的一种非焊接在路检测贴片RAM的系统和方法。

二、背景技术

目前常用集成电路质量检测方法分为：不在路检测和在路检测。

不在路检测是指：一看封装标记是否清晰，字迹商标及出厂编号是否俱全；二检引脚是否光滑亮泽，无腐蚀插拔痕迹；三用万用表测量集成电路的VDD和GND之间是否有二极管效应。

在路检测是指：有一套成熟电路，用替换法将待测集成电路焊接在电路中，判断其性能好坏。

以上两种方法存在如下缺陷：一、判断标准不好界定。二、与引脚接触不好影响测量结果。三、防滑措施不好存在使集成电路短路的风险，损伤器件。四、贴片器件焊接麻烦，不易拆卸。

三、实用新型内容

针对现有技术中集成电路质量检测方法的缺陷，本实用新型提出一种无需焊接待测贴片器件，又可在路检测的方法，该方法可直观判断集成电路的好坏。

本实用新型目的是：解决贴片RAM器件只能焊接在成熟电路中检测的局限和拆卸过程中易损坏器件的问题。

本实用新型技术方案如下：

一种非焊接在路检测贴片RAM的系统，包括测试电路板和装有测试软件的PC机，测试电路板与PC机连接；

所述测试电路板包括测试电路和PCB板，测试电路在PCB上；所述测试电路包括：电源、单片机、RS232通信芯片和RS232接口；单片机通过RS232通信芯片连接RS232接口；所述PC机上的RS232接口通过线缆连接测试电路板上的RS232接口；

所述PCB板上还设有与被测RAM管脚对应的表面贴触点，该表面贴触点通过印制线与单片机的相应的数据输入/输出引脚连接；

还包括锁扣式转接插座，该锁扣式转接插座固定在被测RAM管脚对应的表面贴触点位置，且当被测RAM装在锁扣式转接插座上时，被测RAM的管脚与所述表面贴触点接触。

所述测试电路还包括USB接口和USB转换芯片；所述USB接口通过USB转换芯片连接RS232通信芯片。

上述系统应用时，即检测贴片RAM的方法，是先将测试电路板通过RS232接口与PC机的RS232接口连接；再将待测贴片RAM放入锁扣式转接插座；最后用PC端测试软件对RAM进行读、写操作并比较结果，并将判断结果直接显示出来。或者，是先将测试电路板通过USB接口与PC机的USB接口连接；再将待测贴片RAM放入锁扣式转接插座；最后用PC端测试软件对RAM进行读、写操作并比较结果，并将判断结果直接显示出来。

本实用新型有益效果是：通过利用编程器常用配件锁扣式转接插座，使得非焊接在路检测贴片器件成为可能。

四、附图说明

图1是本技术方案硬件示意图，

图2是本技术方案软件流程示意图。

五、具体实施方式

下面结合附图与具体实施方式对本技术方案进一步说明如下（本例中，被测为IS62C256AL型号的RAM）：

一种非焊接在路检测贴片RAM的系统，包括测试电路板和装有测试软件的PC机，测试电路板与PC机连接；

所述测试电路板包括测试电路和PCB板，测试电路在PCB上；所述测试电路包括：电源、单片机、RS232通信芯片和RS232接口；单片机通过RS232通信芯片连接RS232接口；所述PC机上的RS232接口通过线缆连接测试电路板上的RS232接口；

所述PCB板上还设有与IS62C256AL管脚对应的表面贴触点，该表面贴触点通过印制线与单片机的相应的数据输入/输出引脚连接；

还包括锁扣式转接插座，该锁扣式转接插座固定在IS62C256AL管脚对应的表面贴触点位置，且当IS62C256AL装在锁扣式转接插座上时，IS62C256AL的管脚与所述表面贴触点接触。

所述测试电路还包括USB接口和USB转换芯片；所述USB接口通过USB转换芯片连接RS232通信芯片。

上述系统检测贴片RAM的方法，是先将测试电路板通过RS232接口与PC机的RS232接口连接；再将待测IS62C256AL放入锁扣式转接插座；最后用PC端测试软件对IS62C256AL进行读、写操作并比较结果，并将判断结果直接显示出来。

或者，是先将测试电路板通过USB接口与PC机的USB接口连接；再将待测IS62C256AL放入锁扣式转接插座；最后用PC端测试软件对IS62C256AL进行读、写操作并比较结果，并将判断结果直接显示出来。

本技术方案中，PC机端测试软件，采用图2所示流程指示思路编写。