[发明专利]调制信号检测装置及调制信号检测方法无效

专利信息
申请号: 201280002214.1 申请日: 2012-06-11
公开(公告)号: CN103038826A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 伊藤清贵;日野泰守 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B7/135 分类号: G11B7/135;G01B9/02;G01B11/24;G11B7/005
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 调制 信号 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种调制信号检测装置,用于检测调制信号,其特征在于包括:

波长可变激光器,射出激光、能够变更振荡波长;

光分歧器,将从所述波长可变激光器射出的所述激光分割为信号光和参照光;

参照光镜,配置在所述参照光的光路上;

干涉部,使被调制的所述信号光和被所述参照光镜反射的所述参照光相互干涉;

干涉光检测部,检测由所述干涉部产生的干涉光并输出干涉光检测信号;

波长控制信号生成部,基于所述干涉光检测信号,生成用于控制所述波长可变激光器的振荡波长的振荡波长控制信号,其中,

当设所述信号光通过的光路的长度以真空中的折射率换算出的初期光程为ld0,所述参照光通过的光路的长度以真空中的折射率换算出的初期光程为lm0,以真空中的折射率换算出的所述信号光和所述参照光的光程差的变动幅度为Δl,所述波长可变激光器的中心振荡波长为λ0,所述波长可变激光器的振荡波长可变范围为Δλ时,

初期光程差|ld0-lm0|满足下式(1),

|ld0-lm0|>ΔlΔλλo······(1).]]>

2.根据权利要求1所述的调制信号检测装置,其特征在于:所述波长控制信号生成部,从所述干涉光检测信号检测调制信号带域以外的带域的变动成分,并基于检测出的所述变动成分,生成所述振荡波长控制信号。

3.根据权利要求1或2所述的调制信号检测装置,其特征在于还包括:

物镜,使所述信号光聚光;

伺服误差信号生成部,根据所述干涉光检测信号,生成对应于所述物镜的聚焦位置的伺服误差信号,其中,

所述波长控制信号生成部,基于所述伺服误差信号生成所述振荡波长控制信号。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的调制信号检测装置,其特征在于:

所述信号光,通过被配置在所述信号光的光路上的记录有数据的光盘介质而被调制,

所述调制信号检测装置还包括,通过根据所述干涉光检测信号生成再生信号,再生记录于所述光盘介质中的所述数据的再生信号处理部。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的调制信号检测装置,其特征在于:

所述信号光,通过被配置在所述信号光的光路上的具有指定的表面形状的物体而被调制,

所述调制信号检测装置还包括,通过根据所述干涉光检测信号生成再生信号,测量所述物体的表面形状的再生信号处理部。

6.根据权利要求1或2所述的调制信号检测装置,其特征在于还包括:

光调制元件,被配置在所述信号光的光路上,其光学特性随应该传输的数据而变化;其中,

所述干涉部,使通过所述光调制元件而被调制的所述信号光和被所述参照光镜反射的所述参照光相互干涉,

所述调制信号检测装置还包括,通过根据所述干涉光检测信号生成再生信号,利用光传输所述数据的再生信号处理部。

7.根据权利要求6所述的调制信号检测装置,其特征在于:所述光学特性为折射率。

8.根据权利要求6所述的调制信号检测装置,其特征在于:所述光学特性为透过率。

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