[发明专利]光信息装置及控制偏离检测方法无效

专利信息
申请号: 201280002243.8 申请日: 2012-05-29
公开(公告)号: CN103052985A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 近藤健二;山元猛晴;藤畝健司 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B7/09 分类号: G11B7/09;G11B7/126
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 信息 装置 控制 偏离 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种光信息装置,通过使主光束和副光束收束到信息记录介质的信息层上来记录信息,其特征在于包括:

聚焦控制部,进行控制使所述主光束的收束点收束到指定的信息层上;

跟踪控制部,进行控制使所述主光束的收束点扫描信息层上的指定的轨道或指定的标记列;

副光束受光部,接收被所述信息层反射的所述副光束,并输出与接收的光量相应的信号;

控制偏离检测部,在记录所述信息的记录动作中,基于来自所述副光束受光部的信号,检测所述主光束的收束点偏离指定的信息层的聚焦控制偏离状态或者所述主光束的收束点偏离信息层上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制偏离状态。

2.根据权利要求1所述的光信息装置,其特征在于:

所述控制偏离检测部,在从所述副光束受光部输出的信号的强度为已记录信息的已记录区域的反射光强度或为未记录信息的未记录区域的反射光强度时,检测出是所述聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。

3.根据权利要求1所述的光信息装置,其特征在于:

所述副光束,包含多束副光束,

所述副光束受光部,包含分别接收被所述信息层反射的所述多束副光束的多个副光束受光部,

所述控制偏离检测部,在从所述多个副光束受光部输出的多个信号的强度之和为已记录信息的已记录区域的反射光强度或为未记录信息的未记录区域的反射光强度时,检测出是所述聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。

4.根据权利要求3所述的光信息装置,其特征在于:

所述多束副光束,包括在所述主光束收束到轨道中心时收束于已记录信息的已记录区域侧的第1副光束、和在所述主光束收束到轨道中心时收束于未记录信息的未记录区域侧的第2副光束。

5.根据权利要求1所述的光信息装置,其特征在于:

所述控制偏离检测部,在来自所述副光束受光部的信号的强度从已记录信息的已记录区域的反射光强度变为未记录信息的未记录区域的反射光强度时,或从所述未记录区域的反射光强度变为所述已记录区域的反射光强度时,检测出是所述聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。

6.根据权利要求1所述的光信息装置,其特征在于:

所述控制偏离检测部,在所述副光束受光部输出的信号的调制度为已记录信息的已记录区域的调制度或为未记录信息的未记录区域的调制度时,检测出是所述聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。

7.根据权利要求1所述的光信息装置,其特征在于:

所述副光束,包含多束副光束,

所述副光束受光部,包含分别接收被所述信息层反射的所述多束副光束的多个副光束受光部,

所述控制偏离检测部,在所述多个副光束受光部输出的多个信号的调制度之和为已记录信息的已记录区域的调制度或为未记录信息的未记录区域的调制度时,检测出是所述聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。

8.根据权利要求7所述的光信息装置,其特征在于:

所述多束副光束,包括在所述主光束收束到轨道中心时收束于已记录信息的已记录区域侧的第1副光束、在所述主光束收束到轨道中心时收束于未记录信息的未记录区域侧的第2副光束。

9.根据权利要求1所述的光信息装置,其特征在于:

所述控制偏离检测部,在所述副光束受光部的信号的调制度从已记录信息的已记录区域的调制度变为未记录信息的未记录区域的调制度时,或从所述未记录区域的调制度变为所述已记录区域的调制度时,检测出是聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。

10.根据权利要求1所述的光信息装置,其特征在于:

所述副光束,包含多束副光束,

所述副光束受光部,包含分别接收被所述信息层反射的所述多束副光束的多个副光束受光部,

所述控制偏离检测部,在所述多个副光束受光部输出的多个信号的强度的差分未达到指定强度时,检测出是所述聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。

11.根据权利要求10所述的光信息装置,其特征在于:

所述多束副光束,包含在所述主光束收束到轨道中心时收束于已记录信息的已记录区域侧的第1副光束、和在所述主光束收束到轨道中心时收束于未记录信息的未记录区域侧的第2副光束。

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