[发明专利]磁记录介质的矫顽磁力判定方法

说明书

技术领域

本发明涉及磁记录介质的矫顽磁力判定方法，尤其涉及适用于具有对磁记录介质的不同矫顽磁力进行判定的功能的磁卡读取器等介质处理装置的磁记录介质的矫顽磁力判定方法。

背景技术

一般而言，介质处理装置的磁头与设置在磁卡或存折等磁记录介质上的磁条等磁记录部相抵接，并使磁头进行相对移动，从而对记录在磁记录部内的磁信息进行写入、读取(记录、再现)。近年来，在这种磁记录介质的介质处理装置中，对磁卡等磁记录介质(以下称为“磁卡”)的磁条等磁记录部的不同的矫顽磁力的大小进行了标准化。例如，除了一直以来被标准化的具有低矫顽磁力(例如，300～400Oe)的磁卡(以下称为“低矫顽磁力的磁卡”)以外，磁记录部新标准化了具有高矫顽磁力(例如，2750Oe)的磁卡(以下，称为“高矫顽磁力的磁卡”)。此处，高矫顽磁力的磁卡利用必须由磁记录部施加更高的逆磁场(一般而言，2750Oe以上)、被磁化的磁信息才会变为零的磁性材料成形而成，低矫顽磁力的磁卡利用只要磁记录部施加较低的逆磁场(一般而言，65Oe以下)、就能使被磁化的磁信息变为零的磁性材料成形而成。

近年来，为了提高记录在磁卡中的磁信息的可靠性等，或者出于保护记录在磁卡的磁记录部中的磁信息的观点，越来越多地使用了高矫顽磁力的磁卡，但低矫顽磁力的磁卡也得到了广泛的普及，因而高矫顽磁力的磁卡和低矫顽磁力的磁卡被混在一起进行使用。

一般而言，在对低矫顽磁力或高矫顽磁力这样的矫顽磁力不同的磁卡进行写入时，若不设定与矫顽磁力相对应的合适的写入电流，则无法得到合适的再现输出。因此，为了根据磁卡的矫顽磁力来设定合适的写入电流，需要判定磁卡是高矫顽磁力的磁介质还是低矫顽磁力的磁介质。作为对矫顽磁力进行判定的矫顽磁力判定方法，例如，是利用磁头对从卡插入口插入的低矫顽磁力的磁卡或高矫顽磁力的磁卡上形成的磁信息进行再现或进行记录的磁卡的矫顽磁力判定方法，利用只能将低矫顽磁力的磁卡的磁信息消去的电流将所插入的磁卡的磁信息消去，然后，对磁卡的磁信息进行再现，在磁信息为破坏状态的情况下，将所插入的磁卡判定为低矫顽磁力的磁卡。已知有根据无法识别预先确定的应当记录在磁卡中的特定的磁信息来判定磁信息的破坏状态的矫顽磁力判定方法(例如，参照专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2000-155816号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

然而，在专利文献1中记载的矫顽磁力判定方法中，通过对一定输出值以上的残留输出峰数进行计数来判定磁信息是否被破坏，因此，由进行判定的输出电平及残留输出峰数来确定判定结果，因而存在该判定输出电平及判定残留输出峰数的阈值设定会对判定结果产生较大影响的问题。

此外，由于矫顽磁力的判定结果取决于磁头的饱和特性、再现输出，因此，存在容易受饱和特性、再现输出的偏差的影响的问题。

此外，在专利文献1中记载的矫顽磁力判定方法中，判定结果取决于写入磁信息的高矫顽磁力用的记录电流值和消去磁信息的低矫顽磁力用的电流值，因此，存在这些电流值的设定及偏差会影响判定结果的问题。

近年来，低矫顽磁力的磁卡中也在逐渐混杂着使用具有较高矫顽磁力的磁卡(例如，650Oe)，因此，低矫顽磁力用的电流值的设定开始会对判定结果产生较大的影响。

此外，还存在利用低矫顽磁力用的电流值进行DC消去之后的再现输出容易因磁头的特性、记录电流值、磁卡与磁头之间的间隔、及磁卡的特性等而发生变动的问题。例如，在插入翘曲的磁卡时或磁条上附着有垃圾等时等，磁条与磁头的距离比通常时的要大，因此，磁通的变化与通常时不同，其结果是，存在错误地判定磁卡的矫顽磁力的问题。

本发明是鉴于上述问题而完成的，其目的在于提供一种能判定磁记录介质的矫顽磁力而不易受磁头、磁记录介质的特性、记录电流值的偏差的影响的磁记录介质的矫顽磁力判定方法。

解决技术问题所采用的技术方案

为了解决上述技术问题，本发明提供以下的磁记录介质的矫顽磁力判定方法。