[发明专利]光纤特性测量方法和光模块

说明书

技术领域

本发明涉及光纤通信领域，特别涉及一种光纤特性测量方法和光模块。

背景技术

光时域反射计（Optical Time Domain Reflectometer，OTDR）是测量光纤特性的首选仪器，通过OTDR可以评估单根光纤或完整链路的特性，通过OTDR的测量曲线可以一目了然地看到损耗故障和事件间距离。

OTDR以类似雷达的模式工作，OTDR的激光器向被测光纤中发射一个测试信号，测试信号经光纤传输时会由于光纤本身的特性（介质不均匀）形成后向散射信号或光纤链路的事件（连接、断裂、光纤尾端）形成反射信号，OTDR的检测器检测到后向散射信号或反射信号的强度和到达的时间，计算获得沿光纤长度分布的线路衰减情况及线路上的事件曲线。

现有基于的光纤特性测量中，不但需要测量线路的衰减和反射事件，还需要能够识别线路上的弯曲，而现有的OTDR光纤特性测量是基于单波长光进行，无法对线路上的弯曲事件进行识别，测量精确度较低。

发明内容

本发明实施例提供了一种光纤特性测量方法和光模块。所述技术方案如下：

一种光纤特性测量方法，所述方法包括：

光时域反射计集成电路OTDR ASIC通过激光二极管LD向耦合器发送承载第一测试信号的第一波长光（1490nm），所述耦合器透射所述承载第一测试信号的第一波长光的第一指定部分，由光纤耦合器将所述承载第一测试信号的第一波长光的第一指定部分耦合至待测量光纤链路，使得所述待测量光纤链路对所述第一波长光的第一指定部分进行反射或散射，返回承载第一后向信号的第一波长光；

耦合器将所述承载第一后向信号的第一波长光的第二指定部分反射到PD上，由所述PD转换为电信号，再经跨阻放大器TIA进行放大，所述OTDR ASIC对放大后的信号进行处理，得到所述待测量光纤链路的第一测试曲线；

OTDR ASIC通过LD发送承载第二测试信号的第二波长光（1310nm），分光器对所述第二波长光的第三指定部分进行反射，使得将所述第二波长光的指定部分通过耦合器耦合至待测量光纤链路，由所述待测量光纤链路对所述第二波长光进行反射或散射，返回承载第二后向信号的第二波长光；

分光器对所述承载第二后向信号的第二波长光的第四指定部分进行透射，由耦合器将所述承载第二后向信号的第二波长光的第四指定部分反射到PD上，由所述PD转换为电信号，再经跨阻放大器TIA进行放大，所述OTDR ASIC对放大后的信号进行处理，得到所述待测量光纤链路的第二测试曲线；

根据所述第一测试曲线和所述第二测试曲线，得到所述待测量光纤链路的光纤特性曲线。

光时域反射计集成电路OTDR ASIC通过激光二极管LD向耦合器发送承载第一测试信号的第一波长光，包括：

所述OTDR ASIC驱动第一波长LD向耦合器发送承载第一测试信号的第一波长光；

或，

OTDR ASIC向LDD发送所述第一测试信号，由LDD驱动第一波长LD向耦合器发送承载第一测试信号的第一波长光；

相应地，OTDR ASIC通过LD发送承载第二测试信号的第二波长光，包括：

所述OTDR ASIC驱动第二波长LD向耦合器发送承载第二测试信号的第二波长光；或，

OTDR ASIC向LDD发送所述第二测试信号，由LDD驱动第二波长LD向耦合器发送承载第二测试信号的第二波长光。

所述承载第一测试信号的第一波长光还承载下行数据信号，和/或，

所述承载第二测试信号的第二波长光还承载下行数据信号。

所述第一指定部分为10%，所述第二指定部分为90%，所述第三指定部分为10%，所述第四指定部分为90%。

一种光模块，包括：跨阻放大器TIA、光探测器APD、限幅放大器LA、光时域反射计集成电路OTDR ASIC、激光驱动器LDD、第一波长LD、第二波长LD、光接口、耦合器，所述耦合器对第一波长光的第一指定部分进行反射，对所述第一波长光的所述第一指定部分以外的部分进行透射，对第二波长光进行全反射。

所述光模块还包括：与所述APD设置于同一光路的可调滤波器，所述可调滤波器用于在正常通信阶段滤除所述接收模块接收到的第一波长光，透射所述第二波长光，并在测试阶段透射所述第一波长光和所述第二波长光；

或，所述可调滤波器用于在正常通信阶段滤除所述接收模块接收到的第一波长光，透射所述第二波长光，并在测试阶段透射所述第一波长光，滤除所述第二波长光；