[发明专利]光子计数型图像检测器、X射线诊断装置、以及X射线计算机断层装置

权利要求书

1.一种光子计数型图像检测器，具备：

X射线检测物质，检测X射线光子；

电气脉冲生成部，根据响应检测出的所述X射线光子而集电的电荷，生成电气脉冲；

辨别部，对所述电气脉冲进行峰值辨别；

控制部，进行控制，以使得使进行了峰值辨别的所述电气脉冲中的、与由所述X射线检测物质发生的特性X射线的能量对应的电气脉冲成为非计数；以及

计数部，依照由所述控制部进行的控制，对进行了辨别的所述电气脉冲进行计数。

2.一种X射线诊断装置，具备权利要求1所述的所述光子计数型图像检测器。

3.根据权利要求2所述的X射线诊断装置，其特征在于，

所述控制部进行控制，以使得使进行了峰值辨别的所述电气脉冲中的与所述特性X射线的能量对应的电气脉冲、以及由所述X射线检测物质发生的与多个不同的特性X射线的能量的差分能量对应的电气脉冲成为非计数。

4.根据权利要求2或者3所述的X射线诊断装置，其特征在于，还具备：

辐射性质控制部，该辐射性质控制部通过控制所述X射线管的阳极材料、对所述X射线管施加的管电压、以及在所述X射线管的前面配置的辐射性质滤波器，控制所述X射线的辐射性质，

所述辐射性质控制部以使所述X射线的X射线谱的下限能量超过所述X射线检测物质的特性X射线能量的2倍的方式，控制所述X射线的辐射性质。

5.根据权利要求2或者3所述的X射线诊断装置，其特征在于，还具备：

辐射性质控制部，该辐射性质控制部通过控制所述X射线管的阳极材料、对所述X射线管施加的管电压、以及在所述X射线管的前面配置的辐射性质滤波器，控制所述X射线的辐射性质，

在所述X射线检测物质由多个元素构成的情况下，所述辐射性质控制部以使所述X射线的X射线谱的下限能量超过所述多个元素的特性X射线能量中的最大的特性X射线能量的2倍的方式，控制所述X射线的辐射性质。

6.根据权利要求2或者3所述的X射线诊断装置，其特征在于，还具备：

辐射性质控制部，该辐射性质控制部通过控制所述X射线管的阳极材料、对所述X射线管施加的管电压、以及在所述X射线管的前面配置的辐射性质滤波器，控制所述X射线的辐射性质，

所述辐射性质控制部在包括作为所述特性X射线能量的第1特性X射线能量和能量比所述第1特性X射线能量小的作为所述特性X射线能量的第2特性能量、并且在所述第1特性X射线能量与所述第2特性X射线能量之间不存在其他特性X射线能量的情况下，以使所述X射线的X射线谱的下限能量超过所述第2特性X射线能量的2倍、并且使所述X射线谱的上限能量不超过第1特性X射线能量的方式，控制所述X射线的辐射性质。

7.根据权利要求2或者3所述的X射线诊断装置，其特征在于，还具备：

辐射性质控制部，所述辐射性质控制部通过控制所述X射线管的阳极材料、对所述X射线管施加的管电压、以及在所述X射线管的前面配置的辐射性质滤波器，控制所述X射线的辐射性质，

在所述X射线检测物质由多个元素构成的情况下，所述辐射性质控制部在包括作为所述特性X射线能量的第1特性X射线能量和能量比所述第1特性X射线能量小的作为所述特性X射线能量的第2特性能量、并且在所述第1特性X射线能量与所述第2特性X射线能量之间不存在其他特性X射线能量的情况下，以使所述X射线的X射线谱的下限能量超过所述多个元素的第2特性X射线能量中的最大的第2特性X射线能量的2倍、并且使所述X射线谱的上限能量不超过所述多个元素的第1特性X射线能量中的最小的第1特性X射线能量的方式，控制所述X射线的辐射性质。

8.一种X射线计算机断层装置，具备权利要求1所述的所述光子计数型图像检测器。

9.根据权利要求6所述的X射线计算机断层装置，其特征在于，

所述控制部进行控制，以使得使进行了峰值辨别的所述电气脉冲中的与所述特性X射线的能量对应的电气脉冲、以及由所述X射线检测物质发生的与多个不同的特性X射线的能量的差分能量对应的电气脉冲成为非计数。