[发明专利]二次电池寿命预测装置、电池系统及二次电池寿命预测方法

说明书

技术领域

本发明涉及二次电池寿命预测装置、电池系统、以及二次电池寿命预测方法。

背景技术

二次电池因充放电的反复、高温环境下的使用等而劣化，因此二次电池存在可使用的期间(寿命)。

为此，作为预测二次电池的寿命的技术，在专利文献1中，记载了根据二次电池的内部电阻值来计算二次电池的蓄电部的电阻值，且计算二次电池的使用环境下的、蓄电部的电阻值的增加率，并根据计算出的蓄电部的电阻值以及蓄电部的电阻值的增加率来估计二次电池的剩余寿命的技术。

先行技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2010-139260号公报

发明要解决的课题

在专利文献1记载的技术中，根据实时计测出的二次电池的电流以及电压来取得电流变化值以及电压变化值，并根据取得的电流变化值以及电压变化值来计算二次电池的内部电阻值，从而估计了二次电池的剩余寿命。故而，存在二次电池的剩余寿命因所计测的电流以及电压的误差而突然下降、或增加的可能性。

发明内容

本发明鉴于这样的事实而提出，其目的在于，提供能进行更高精度的二次电池的寿命预测的二次电池寿命预测装置、电池系统、以及二次电池寿命预测方法。

用于解决课题的手段

为了解决上述课题，本发明的二次电池寿命预测装置、电池系统、以及二次电池寿命预测方法采用以下手段。

即，本发明的第1技术方案所涉及的二次电池寿命预测装置具备：计测单元，其计测对二次电池的劣化造成影响的因子的大小；比较单元，其对第1值和第2值进行比较，所述第1值基于与由所述计测单元在给定期间内多次计测出的所述因子的大小相应的所述二次电池的使用频度，所述第2值基于与所述因子的大小相应的所述二次电池的预先预测出的使用频度；导出单元，其基于所述比较单元得出的比较结果、以及所述预先预测出的二次电池的劣化的程度，来导出处于使用状态的所述二次电池的劣化的程度；以及预测单元，其基于由所述导出单元导出的所述程度，来预测所述二次电池的寿命。

根据本发明的第1技术方案，由计测单元计测对二次电池的劣化造成影响的因子的大小。对二次电池的劣化造成影响的因子例如是二次电池的电流、二次电池的蓄电量、以及二次电池的温度。

另外，在本发明的第1技术方案中，求取与给定期间内多次计测出的因子的大小相应的二次电池的使用频度，换言之二次电池的使用的历史。上述给定期间例如是从二次电池的使用开始起到现在为止的期间，因子的计测例如1日进行10次。通过增多该计测单元计测因子的期间、以及次数，二次电池的寿命预测的精度进一步得以提高。

另外，由比较单元对基于与计测单元在给定期间内多次计测出的因子的大小相应的二次电池的使用频度的第1值、和基于与预先预测出的因子的大小相应的二次电池的使用频度的第2值进行比较。

即，第1值是为了基于实测出的因子而与二次电池的实际的使用状态相应的值，第2值是与根据二次电池的设计值而求取的理想的使用状态相应的值。故而，通过比较第1值和第2值，来比较二次电池的实际的使用状态和二次电池的理想的使用状态。

进而，由导出单元基于比较单元得出的比较结果、以及预先预测出的二次电池的劣化的程度，来导出处于使用状态的二次电池的劣化的程度。预先预测出的二次电池的劣化的程度例如通过预先进行的实验来求取。然后，由预测单元基于由导出单元导出的程度，来预测二次电池的寿命。

如此，本发明的第1技术方案中，在给定期间内多次计测对二次电池的劣化造成影响的因子的大小，基于与计测出的因子的大小相应的二次电池的使用频度，来预测二次电池的寿命，因此能进行更高精度的二次电池的寿命预测。

另外，关于本发明的第1技术方案所涉及的二次电池寿命预测装置，可以是，所述导出单元随着由所述计测单元计测出的所述因子的大小超过预定的阈值的频度变大，将所述二次电池的劣化的程度导出得更大。

若对二次电池的劣化造成影响的因子的大小超过某阈值，则促进二次电池的劣化。据此，本发明的第1技术方案所涉及的二次电池寿命预测装置随由计测单元计测出的因子的大小超过预定的阈值的频度变大而将二次电池的劣化的程度导出得更大，因此能进行更高精度的二次电池的寿命预测。

另外，本发明的第1技术方案所涉及的二次电池寿命预测装置可以具备：控制单元，其按照所述第1值与所述第2值之间的偏差量变小的方式，来控制所述二次电池的使用状态。