[发明专利]光伏电池无效
申请号: | 201280005285.7 | 申请日: | 2012-01-11 |
公开(公告)号: | CN103534814A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | J·布里斯诺 | 申请(专利权)人: | 庐光股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352 |
代理公司: | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人: | 孟锐 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电池 | ||
1.一种光伏结构,其包括:
半导体衬底;以及
第一多个金属颗粒,其接合到所述半导体衬底,
借此所述光伏结构能够致使在暴露于红外光谱、可见光谱或紫外光谱中的一者或一者以上内的电磁辐射后即刻产生电流。
2.根据权利要求1所述的光伏结构,其中所述光伏结构是半透明的。
3.根据权利要求1所述的光伏结构,其中所述第一多个金属颗粒如下产生:
通过溅镀、气相沉积或印刷中的一者或一者以上将第一金属层沉积到所述半导体衬底上;以及
在400摄氏度与1200摄氏度之间的范围内的温度下加热所述光伏结构。
4.根据权利要求3所述的光伏结构,其中所述第一金属层包括镍、铜或钴中的一者或一者以上。
5.根据权利要求3所述的光伏结构,其中所述第一金属层具有在5纳米与20纳米之间的范围内的厚度。
6.根据权利要求1所述的光伏结构,其进一步包括第二多个金属颗粒,其中所述第一多个金属颗粒和所述第二多个金属颗粒如下产生:
通过溅镀、气相沉积或印刷中的一者或一者以上将第一金属层沉积到所述半导体衬底上;
通过溅镀、气相沉积或印刷中的一者或一者以上将第二金属层沉积到所述第一金属层上;以及
在400摄氏度与1200摄氏度之间的范围内的温度下加热所述光伏结构。
7.根据权利要求6所述的光伏结构,其中所述第一和所述第二多个金属颗粒包括银、金、铂、铜、钯、钴、钛、钨、镍、铬和铝中的一者或一者以上。
8.根据权利要求6所述的光伏结构,其中所述第一金属层具有在5纳米与20纳米之间的范围内的厚度,且其中所述第二金属层具有在20纳米到200纳米之间的范围内的厚度。
9.根据权利要求1所述的光伏结构,其中所述半导体衬底具有在10纳米与500微米之间的范围内的厚度。
10.根据权利要求1所述的光伏结构,其中所述半导体衬底包括硅,包含非晶硅、多晶硅或单晶硅中的一者或一者以上。
11.根据权利要求1所述的光伏结构,其中所述第一多个金属颗粒中的所述颗粒中的任一者具有在0.001微米与50微米之间的范围内的大小。
12.根据权利要求1所述的光伏结构,其中所述第一多个金属颗粒均匀分布于所述衬底上。
13.根据权利要求1所述的光伏结构,其中所述第一多个金属颗粒在颗粒之间具有在0.001微米到100微米的范围内的间距。
14.根据权利要求1所述的光伏结构,其中所述光伏结构具有在100纳米与500微米之间的范围内的厚度。
15.一种用于制造光伏结构的方法,其包括:
通过溅镀、气相沉积或印刷中的一者或一者以上将第一金属层沉积到半导体衬底上;以及
在400摄氏度与1200摄氏度之间的范围内的温度下加热所述第一金属层和所述半导体衬底以产生接合到所述半导体衬底的第一多个金属颗粒,
借此通过所述沉积和所述加热产生的所述光伏结构能够致使在暴露于红外光谱、可见光谱或紫外光谱中的一者或一者以上内的电磁辐射后即刻产生电流。
16.根据权利要求15所述的方法,其中所述光伏结构是半透明的。
17.根据权利要求15所述的方法,其中所述第一金属层包括镍、铜或钴中的一者或一者以上。
18.根据权利要求15所述的方法,其中所述第一金属层具有在5纳米与20纳米之间的范围内的厚度。
19.根据权利要求15所述的方法,其进一步包括:
通过溅镀、气相沉积或印刷中的一者或一者以上将第二金属层沉积到所述第一金属层上;以及
所述加热步骤进一步包括在400摄氏度与1200摄氏度之间的范围内的温度下加热所述第二金属层和所述半导体衬底以产生接合到所述半导体衬底的第二多个金属颗粒。
20.根据权利要求19所述的方法,其中所述第一金属层具有在5纳米与20纳米之间的范围内的厚度,且其中所述第二金属层具有在20纳米到200纳米之间的范围内的厚度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于庐光股份有限公司,未经庐光股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201280005285.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电池组及车辆
- 下一篇:在玻璃基底上制备四氧化三钴纳米薄膜的方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的