[发明专利]粒子处理在审

专利信息
申请号: 201280010317.2 申请日: 2012-02-22
公开(公告)号: CN103391815A 公开(公告)日: 2013-11-13
发明(设计)人: 尤卡·图纳宁 申请(专利权)人: 恩姆菲舍尔科技公司
主分类号: B03C1/28 分类号: B03C1/28;B03C1/01;B03C1/033;G01N33/543;G01N35/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 刘晓峰
地址: 芬兰*** 国省代码: 芬兰;FI
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摘要:
搜索关键词: 粒子 处理
【权利要求书】:

1.一种用于处理磁性粒子的方法,在所述方法中

-与物质选择性地相互作用的磁性粒子被引入到器皿(1)中的液体介质内,从而使所述粒子与可能地存在于所述介质中的所述物质相互作用,并且所述物质固定到所述粒子,

-包括具有封闭底端的中空罩(4)和可在所述罩中上下移动的探针磁体(3)的探针(2)被引入到所述介质中,以使所述磁体保持在其下方位置,从而使所述粒子的至少一部分附接在所述罩的所述下端,

-带有附接的所述粒子的所述探针被从所述介质提起,并且所述探针的所述下端被置于板(6)的释放位置(7)上,当所述粒子被释放到所述释放位置上时,所述释放位置的表面为干燥的,或者在所述释放位置上具有液体膜或液滴,并且在所述释放位置下方存在释放磁体(8),并且

-所述探针磁体被提升至其上方位置,从而使所述粒子从在所述释放位置上的所述罩的端部被去除。

2.根据权利要求1所述的方法,其中当所述粒子被释放到所述释放位置(7)的表面上时,所述释放位置的表面为干燥的。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其中所述板(2)为显微镜载片或生长基质。

4.根据权利要求1至3中的任一项所述的方法,其中所述释放位置(7)由排斥所述液体的涂层包围。

5.根据权利要求1至4中的任一项所述的方法,其中在所述释放位置(7)下方存在光源(10)。

6.根据权利要求1至5中的任一项所述的方法,其中所述探针磁体(3)为垂直磁棒并且所述释放磁体为垂直磁棒(8)。

7.根据权利要求6所述的方法,其中所述磁体(3,8)的相反的极彼此相对。

8.一种用于处理磁性粒子的设备,包括:

-探针(2),其包括带有封闭的下端的中空罩(4)和可在所述罩中上下移动的磁体(3),

-释放板(6),其包括至少一个释放位置(7),以及

-释放磁体(8),其在所述至少一个释放位置下方。

9.根据权利要求8所述的设备,包括具有多个释放位置(7)的释放板(6)和在每个释放位置下方的释放磁体(8)。

10.根据权利要求8或9的设备用于从液体介质收集磁性粒子的用途。

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