[发明专利]多层膜及多层膜的制造方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种多层膜及其制造方法，特别是涉及一种光学用的多层膜及其制造方法

背景技术

使用于例如液晶显示装置的光学补偿等的相位差膜要求可以减少因观察角度不同而引起的显示装置的色调变化，以往已开发了各种技术。例如在专利文献1中，提出了一种相位差膜，其将由固有双折射值为正的树脂构成的膜和由固有双折射值为负的树脂构成的膜贴合而形成。但是，固有双折射值为负的树脂的强度通常低且脆。因此，若由固有双折射值为负的树脂构成的层暴露于相位差膜表面，则在处理相位差膜时，由固有双折射值为负的树脂构成的层容易破损。

为了防止由固有双折射值为负的树脂构成的层的破损，在专利文献2中，提出了利用一对由固有双折射值为正的树脂构成的层夹持由固有双折射值为负的树脂构成的层的方案。根据专利文献2记载的方案，可以用一对由固有双折射值为正的树脂构成的层保护由固有双折射值为负的树脂构成的层，因此，可以防止由固有双折射值为负的树脂构成的层的破损。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2008-216998号公报

专利文献2:日本特开2009-192845号公报

发明内容

发明要解决的技术问题

如专利文献2记载那样，在利用一对由固有双折射值为正的树脂构成的层夹持由固有双折射值为负的树脂构成的层的情况下，由固有双折射值为正的树脂构成的层变为多层，延迟(相位差)的控制变得复杂。因此，为了精密地控制相位差膜的延迟，要求精密地控制相位差膜的各层的膜厚。

为了精密地控制相位差膜的各层的膜厚，优选在制造过程中准确地测定各层的膜厚，基于所测定膜厚适当地设定制造条件。可是，就专利文献2中所记载的现有的相位差膜而言，难以在制造过程中准确地测定各层的膜厚。如果是在制造后，可以考虑例如利用扫描型电子显微镜(SEM)观察膜剖面进行膜厚测定，但是，在在线制造过程中，因输送时的振动等导致难以准确地测定膜厚。特别是，在使用含有聚碳酸酯的树脂作为固有双折射值为正的树脂、使用含有苯乙烯类聚合物的树脂作为固有双折射值为负的树脂的情况下，由于形成各层的树脂的折射率为相同程度，因此，对各层的膜厚进行光学测定是非常困难的。

另外，在例如专利文献1记载那样由固有双折射值为正的树脂构成的层和由固有双折射值为负的树脂构成的层分别仅为1层的情况下，可以考虑利用红外线式膜厚计根据各层中红外线的吸收测定膜厚。但是，若如专利文献2记载那样具有多层由固有双折射值为正的树脂构成的层，则无法利用红外线式膜厚测定由固有双折射值为正的树脂构成的层各自的膜厚。

本发明是鉴于上述课题而完成的，其目的在于，提供一种多层膜、以及可将该多层膜制造成具有期望的延迟的相位差膜的制造方法，所述多层膜具有由固有双折射值为负的树脂b构成的B层和形成于B层的两面的由固有双折射值为正的树脂a构成的A层，树脂b含有苯乙烯类聚合物，树脂a含有聚碳酸酯，且可以测定所述的A层及B层各自的膜厚。

用于解决技术问题的方法

本发明人为了解决所述的课题进行了潜心研究，结果发现，通过增大树脂a和树脂b的折射率差，即使在多层膜的制造过程中，也可利用A层与B层的界面上的光反射通过干涉式膜厚计测定A层及B层各自的膜厚。另外，在多层膜为相位差膜的情况下，只要根据制造过程中测定的A层及B层各自的膜厚进行反馈控制并将制造条件适当地调整，则可精密地控制多层膜的延迟。基于这些见解，本发明人完成了本发明。

即，本发明如以下的[1]～[9]所述。

[1]一种多层膜，具备由固有双折射值为负的树脂b构成的B层和形成于B层的两面且由固有双折射值为正的树脂a构成的A层，

树脂b含有苯乙烯类聚合物，

树脂a含有聚碳酸酯，

树脂b和树脂a的平均折射率之差为0.01以上。

[2]如[1]所述的多层膜，其中，树脂a或树脂b包含聚合物，所述聚合物含有源自丙烯酸类化合物的重复单元。

[3]如[2]所述的多层膜，其中，树脂a或树脂b中所含的聚合物中，源自丙烯酸类化合物的重复单元的量为5重量%以上且35重量%以下。

[4]如[1]～[3]中任一项所述的多层膜，其中，苯乙烯类聚合物为含有源自马来酸酐的重复单元的共聚物。

[5]如[1]～[4]所述的多层膜，其通过共挤出法形成。