[发明专利]摄像装置、摄像装置的控制方法及程序有效
申请号: | 201280013840.0 | 申请日: | 2012-03-27 |
公开(公告)号: | CN103430073A | 公开(公告)日: | 2013-12-04 |
发明(设计)人: | 内田亮宏 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | G02B7/28 | 分类号: | G02B7/28;G02B7/34;G02B7/36;G03B13/36;H04N5/232 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 苏卉;车文 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 摄像 装置 控制 方法 程序 | ||
技术领域
本发明涉及一种摄像装置、摄像装置的控制方法及程序,尤其是涉及具备在受光面内的局部区域配置有相位差检测像素的摄像元件的摄像装置、能够适用于该摄像装置的摄像装置的控制方法、及设于所述摄像装置的计算机执行用的摄像装置的控制程序。
背景技术
以往,作为摄像装置的自动聚焦机构中的对焦位置的检测方式,已知有相位差检测方式和对比度检测方式。相位差检测方式利用专用的传感器来检测从透过了摄影透镜的光进行光瞳分割而得到的2个图像的偏差,由此检测焦点位置相对于对焦位置的偏差量及方向,在对焦位置的检测时,无需使摄影透镜的焦点位置移动,因此能够在比较短的时间内检测对焦位置。另一方面,对比度检测方式使摄影透镜的焦点位置移动并搜索与由摄像元件拍摄的图像的对比度关联的对焦评价值成为最大的焦点位置(对焦位置),不需要专用的传感器,对焦精度比较高。
如此,由于相位差检测方式与对比度检测方式具备不同的特征,因此提出了分别设置利用两方式来检测对焦位置的功能,并选择用于对焦的方式的技术。例如在日本特开2010-139942号公报中公开了如下的技术:在具备相位差像素和通常像素的摄像装置中,通过将评价能否进行相位差AF(自动聚焦)的测距的评价函数的值与阈值进行比较来判定相位差AF的可靠性,在所判定的可靠性高时,沿着由相位差AF检测出的对焦位置方向驱动聚焦透镜,在相位差AF的可靠性低时,沿着由对比度AF检测出的对焦位置的方向驱动聚焦,并在对焦位置附近向精度高的对比度AF所得到的对焦位置驱动聚焦透镜。
发明内容
发明要解决的课题
相位差检测方式与对比度检测方式相比,具有能够检测对焦位置的被摄体的条件受限制这样的缺点,更详细而言,对于检测相位差的检测区域的尺寸,在对焦对象的被摄体在摄像元件的受光面上的分布范围大的情况(摄像元件的受光面上的被摄体的尺寸大,或者,虽然摄像元件的受光面上的被摄体的尺寸小但存在于近距离处的多个被摄体分别存在于受光面的接近的位置的情况)下,虽然能够确保对焦位置的检测精度,但是对焦对象的被摄体在摄像元件的受光面上的分布范围小的情况下,存在对焦位置的检测精度下降这样的课题。
相对于此,前述的日本特开2010-139942号公报记载的技术通过将评价能否进行相位差AF的测距的评价函数的值(将AF行上相邻的像素的像素输出之差累计而得到的值)与阈值比较来判定相位差AF的可靠性。因此,在日本特开2010-139942号公报记载的技术中,即使在拍摄不适于以相位差检测方式检测对焦位置的被摄体的情况下,也可能以相位差检测方式进行对焦位置的检测,这种情况下,无法检测对焦位置,或由于使用误检测出的对焦位置而使对焦控制的精度下降。而且,在以相位差检测方式无法检测对焦位置时,将对焦位置的检测向对比度检测方式切换的情况下,存在从指示进行对焦到对焦完成为止的时间变得长时间化这样的问题。
本发明考虑上述事实而作成,目的在于得到一种在拍摄相位差检测方式下对焦位置的检测精度会下降的被摄体时,能够抑制对焦控制的精度下降的摄像装置、摄像装置的控制方法及摄像装置的控制程序。
用于解决课题的手段
本发明的第一形态的摄像装置构成为包括:摄像单元,具备在受光面内的局部区域配置有相位差检测像素的摄像元件,并通过经由焦点位置能够移动的光学系统入射到所述摄像元件的受光面的光来拍摄被摄体;第一检测单元,基于由所述摄像单元的拍摄所得到的图像信号,使所述光学系统的焦点位置移动并反复运算所述图像信号表示的图像中的被设定的检测区域内的对焦评价值,并根据所述焦点位置与所述对焦评价值的关系来检测所述检测区域中的对焦位置;第二检测单元,基于从所述相位差检测像素输出的检测信号来检测对焦位置;获取单元,由所述第一检测单元反复进行检测所述图像中的被设定的多个检测区域的每个检测区域的对焦位置的处理,若经由指示单元被指示对焦,则该获取单元获取由所述第一检测单元刚检测出的所述多个检测区域的每个检测区域的对焦位置;控制单元,若经由所述指示单元被指示对焦,则该控制单元在以下情况下选择所述第一检测部:所述多个检测区域中的所检测出的对焦位置相对于作为基准的检测区域中所检测出的对焦位置的偏差为预先设定的阈值以内的检测区域的个数小于规定值;该控制单元在以下情况下选择所述第二检测部:所检测出的对焦位置的偏差为所述阈值以内的检测区域的个数为规定值以上,由上述选择的检测部进行对焦位置的检测,使用由上述选择的检测部检测出的对焦位置来进行对焦控制单元对所述光学系统的对焦控制。
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