[发明专利]显微镜系统、服务器和程序有效

专利信息
申请号: 201280017713.8 申请日: 2012-01-30
公开(公告)号: CN103460110B 公开(公告)日: 2016-11-30
发明(设计)人: 福武直树;中岛伸一;太平博久 申请(专利权)人: 株式会社尼康
主分类号: G02B21/12 分类号: G02B21/12;G02B21/14;G02B21/36
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 杨晓光;于静
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 显微镜 系统 服务器 程序
【权利要求书】:

1.一种显微镜系统,其包括:

光学显微镜,用于观察检测对象;以及

计算机,其连接到所述显微镜;

其中所述显微镜包括,

照明光学系统,其在预定的照明条件下采用来自光源的照明光照明所述检测对象,

成像光学系统,其基于来自所述检测对象的光形成所述检测对象的图像,以及

图像传感器,其检测由所述成像光学系统形成的所述检测对象的图像并且输出图像信号,以及

其中所述计算机包括,

图像分析单元,其基于由所述图像传感器检测的所述图像信号来获取所述检测对象的图像特征量,

比较单元,其比较所述检测对象的所述图像特征量与多个样本检测对象的图像特征量,并且指定最接近所述检测对象的所述图像特征量的样本检测对象的图像特征量,以及

设定单元,其基于适用于具有由所述比较单元指定的所述图像特征量的样本检测对象的观察的照明状态,来设定所述照明光学系统的照明条件。

2.根据权利要求1所述的显微镜系统,其进一步包括存储单元,所述存储单元在预定的照明条件下存储所述多个样本检测对象的所述图像特征量以及适用于所述样本检测对象的观察的照明状态。

3.根据权利要求1或2所述的显微镜系统,其中所述照明光学系统进一步包括第一空间光调制装置,该第一空间光调制装置在共轭于所述成像光学系统的光瞳的位置处改变所述照明光强度分布,以及

其中所述设定单元包括装置调制单元,其调制所述第一空间光调制装置。

4.根据权利要求1至3中的任何一项所述的显微镜系统,其中所述检测对象的所述图像特征量包括所述检测对象的所述图像的至少一部分的空间频率成分、柱状图、对比度或最大倾斜度。

5.根据权利要求3或4所述的显微镜系统,其进一步包括计算单元,所述计算单元:使用由所述图像传感器检测的所述检测对象的所述图像信号来以微小的量改变所述照明光强度分布,作为由所述第一空间光调制装置在所述照明光强度分布下的初始数据,所述第一空间光调制装置由所述装置调制单元调制;获取无论何时所述照明光强度分布改变的所述图像信号;以及相继计算所述照明光强度分布的合适大小。

6.根据权利要求5所述的显微镜系统,其中所述计算单元:从所述初始数据中改变所述照明光强度分布以形成第一和第二照明光强度分布;获取对应于所述第一和第二照明光强度分布的第一和第二图像信号;以及通过基因算法的使用来计算最优照明光强度分布。

7.根据权利要求3至6中的任何一项所述的显微镜系统,其进一步包括第二空间光调制装置,该第二空间光调制装置布置在共轭于所述成像光学系统的光瞳位置或所述光瞳的位置附近以及共轭于所述第一空间光调制装置的位置处,

其中所述第二空间光调制装置改变被添加到透射光的相位空间分布或透射率的空间分布。

8.根据权利要求1至7中的任何一项所述的显微镜系统,其进一步包括判定单元,该判定单元基于由所述图像传感器检测的所述图像信号来判定所述检测对象是吸收对象还是相位对象。

9.根据权利要求1至8中的任何一项所述的显微镜系统,其中所述显微镜进一步包括波长滤波器,该波长滤波器选择所述照明光的波长范围,以及

其中由所述图像传感器检测的所述图像信号通过所述波长滤波器的使用来检测。

10.根据权利要求1至9中的任何一项所述的显微镜系统,其中所述样本检测对象包括由所述显微镜系统先前观察的检测对象。

11.根据权利要求1所述的显微镜系统,其进一步包括:

发送器单元,其发送所述检测对象的所述图像特征量到服务器;以及

接收器单元,其接收由所述服务器设定的所述照明光学系统的照明条件,

其中所述服务器包括,

第二比较单元,其比较所述检测对象的所述图像特征量与多个样本检测对象的图像特征量,并且指定最接近所述检测对象的所述图像特征量的所述样本检测对象的图像特征量,以及

第二设定单元,其基于适用于具有由所述第二比较单元指定的所述图像特征量的样本检测对象的观察的照明状态,来设定所述照明光学系统的照明条件。

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