[发明专利]用于自动RFID质量控制的系统和方法

权利要求书

1.用于具有一条或多条生产线的RFID制造印刷机的自动RFID质量控制的方法，包括：

用质量控制规格配置所述RFID制造印刷机；

制造批次RFID内嵌物；

在所述批次RFID内嵌物中的每个RFID内嵌物上执行性能测试；

将所述性能测试的结果与所述质量控制规格比较；以及

基于所述性能测试的结果确定所述批次RFID内嵌物的通过状态或失败状态。

2.根据权利要求1所述的方法，进一步包括记录所述性能测试的结果。

3.根据权利要求2所述的方法，进一步包括连续监控所述记录的结果。

4.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

指示所述RFID制造印刷机的每条生产线的所述批次RFID内嵌物的通过状态或失败状态。

5.根据权利要求1所述的方法，进一步包括直接封装具有通过状态的批次RFID内嵌物。

6.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

将具有失败状态的批次RFID内嵌物送到校订过程；

移出有缺陷内嵌物；以及

封装所述批次RFID内嵌物。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述质量控制规格包括产率要求。

8.根据权利要求1所述的方法，其中所述质量控制规格包括连续缺陷限制。

9.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：基于所述性能测试的结果，为具有失败状态的这些内嵌物替换可操作RFID内嵌物。

10.一种用于自动RFID质量控制的系统，包括：

具有至少一条生产线的RFID制造印刷机；

至少一个询问器天线；以及

用于所述RFID制造印刷机的可编程控制逻辑；

其中所述可编程控制逻辑适于在由所述制造印刷机输出的批次RFID内嵌物的每个RFID内嵌物上执行性能测试，将所述性能测试的结果与用户可配置的质量控制规格进行比较，并且确定所述批次RFID内嵌物是否符合所述质量控制规格。

11.根据权利要求9所述的系统，进一步包括用于输入质量控制规格的界面。

12.根据权利要求9所述的系统，其中所述可编程控制逻辑进一步适于记录所述性能测试的结果。

13.根据权利要求11所述的系统，进一步包括用于显示所述性能测试的记录结果的界面。

14.根据权利要求9所述的系统，其中所述可编程控制逻辑进一步适于连续监控所述性能测试的结果。

15.根据权利要求9所述的系统，其中所述可编程控制逻辑进一步适于指示所述批次RFID内嵌物的通过状态或失败状态。

16.根据权利要求14所述的系统，进一步包括用于指示所述RFID制造印刷机的每条生产线的批次RFID内嵌物的所述通过状态或失败状态的界面。

17.根据权利要求9所述的系统，其中所述质量控制规格包括产率要求。

18.根据权利要求9所述的系统，其中所述质量控制规格包括连续缺陷限制。